A Scan-based Transition Fault BIST Compiler
碩士 === 國立清華大學 === 電機工程學系 === 97 === 對於測試轉換延遲錯誤 (transition fault)，內建自我測試電路 (BIST) 是一個不錯的方法，因為它可以支援全速測試 (at-speed test)。為了獲得高品質的測試樣本 (test pattern)，我們提出了一個演算法，設計出高錯誤涵蓋率 (fault coverage) 的線性反饋位移暫存器 (LFSR) 和種子置換邏輯電路 (reseeding logic)，作為測 試轉換延遲錯誤的以掃描鏈為基底的內建自我測試電路 (scan-based BIST) 的測試樣本產生器。這個內建自我測試電路架構是...
| Main Authors: | , |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | en_US |
| Published: |
2008
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| Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/89647327168734917888 |