麥克森(Michelson)干涉影像分析及其應用於IC封裝微應力結構之檢測

碩士 === 國立海洋大學 === 光電科學研究所 === 87 ===

Bibliographic Details
Main Authors: junren-lin, 林俊仁
Other Authors: Shih Min Chin
Format: Others
Language:zh-TW
Published: 1999
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/16609032493841616297
id ndltd-TW-087NTOU0614002
record_format oai_dc
spelling ndltd-TW-087NTOU06140022016-02-01T04:12:23Z http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/16609032493841616297 麥克森(Michelson)干涉影像分析及其應用於IC封裝微應力結構之檢測 junren-lin 林俊仁 碩士 國立海洋大學 光電科學研究所 87 Shih Min Chin 施明昌 1999 學位論文 ; thesis 0 zh-TW
collection NDLTD
language zh-TW
format Others
sources NDLTD
description 碩士 === 國立海洋大學 === 光電科學研究所 === 87 ===
author2 Shih Min Chin
author_facet Shih Min Chin
junren-lin
林俊仁
author junren-lin
林俊仁
spellingShingle junren-lin
林俊仁
麥克森(Michelson)干涉影像分析及其應用於IC封裝微應力結構之檢測
author_sort junren-lin
title 麥克森(Michelson)干涉影像分析及其應用於IC封裝微應力結構之檢測
title_short 麥克森(Michelson)干涉影像分析及其應用於IC封裝微應力結構之檢測
title_full 麥克森(Michelson)干涉影像分析及其應用於IC封裝微應力結構之檢測
title_fullStr 麥克森(Michelson)干涉影像分析及其應用於IC封裝微應力結構之檢測
title_full_unstemmed 麥克森(Michelson)干涉影像分析及其應用於IC封裝微應力結構之檢測
title_sort 麥克森(michelson)干涉影像分析及其應用於ic封裝微應力結構之檢測
publishDate 1999
url http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/16609032493841616297
work_keys_str_mv AT junrenlin màikèsēnmichelsongànshèyǐngxiàngfēnxījíqíyīngyòngyúicfēngzhuāngwēiyīnglìjiégòuzhījiǎncè
AT línjùnrén màikèsēnmichelsongànshèyǐngxiàngfēnxījíqíyīngyòngyúicfēngzhuāngwēiyīnglìjiégòuzhījiǎncè
_version_ 1718173752742641664