Study of low-temperature PECVD of silicon on porous silicon substrates

碩士 === 國立清華大學 === 電機工程學系 === 85 === SOI結構的元件具有低漏電流,較好的特性以及不易受輻射影響,所 以SOI的基板,在下一代ULSI製程中佔有相當重要的地位。但是它最大的 缺點在於SOI的基板價格過高,因此許多的研究單位不斷的在尋找成本低 ,而且又能製備SOI基板的方法,多孔矽就是其中材料的一種。多孔矽不 但具有單晶的結構,而且又容易氧化形成絕緣層,如果能把多孔矽當成介 面...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Chan, Jwo-Hsun, 詹卓勳
Other Authors: Klaus Y. J. Hsu
Format: Others
Language:zh-TW
Published: 1997
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/30238723873997676173