An X-ray study on the growth behavior and structural characterization of sputter-deposited LaNiO3 thin films on Si substrates

博士 === 國立清華大學 === 材料科學工程研究所 === 84 ===

Bibliographic Details
Main Authors: Li, Xin Yi, 李信義
Other Authors: Wu, Tai Bo
Format: Others
Language:zh-TW
Published: 1996
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/80936321736663578679
Description
Summary:博士 === 國立清華大學 === 材料科學工程研究所 === 84 ===