疊紋拓樸影像處理3維光學精密量測

• Main Authors: LI,XIAO-YI, 李孝貽
• Other Authors: ZHANG,RONG-SEN
• Format: Others
• Language: zh-TW
• Published: 1991
• Online Access: http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/18834199587675208529

碩士 === 國立中央大學 === 光電(科學)研究所 === 78 === (1) 由實驗結果圖2-1-1 到2-3-2 不難發現，α角越大，詁紋線越密，線間代表的高 度落差越小，這表示精確度隨α角越大而越高，這點證明1-2-(c) 節的推論不假。 如果α角過大，在待測物表面起伏大的地方，詁紋將會非常密集，嚴重者甚至將會無 法解析分辨它們，觀察圖2-3-2 便可得知此一現象。 (2) 由圖2-4-1 到2-6-4 可了解，高解析度的比低解析度的拍攝系統所得到的詁紋清 晰許多，清晰表示疊紋暗線與亮線間的亮度適中，使得暗線得以突顯，第二章前段的 理論說明可完美解釋不同解析度的拍攝系統所得到的疊紋清析度差異的原因。 某些疊紋反白後的暗線比未反白前來得清楚，這表示拍攝系統的解析度對詁紋暗線的 影響比亮線來的大。 (3) 由測量微小的物體的詁紋的過程中（圖2-7-1 到2-8-4 ），可了解當待測物表面 與參考面的光柵投影亮線的亮度不同時，相減後的亮度不為0 ，此一效應必然影響到 詁紋等高線的正確性。 (4) 由圖2-10-1到2-12-2可了解，黃種人的皮膚對光的反射率不差，如能以淡黃色的 平面為參考面，疊紋的對比相當強烈。 參考資料： 1. H. Takasaki, "Moire topography, "Appl. Opt., 1467-1472 (1970). 2. K. J. Gasvik, "Moire Technique By Means Of digital Image Processing" P- rocessing" Appl. Opt. 22, 3543-3548 (1983).