Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究

碩士 === 國立交通大學 === 電子研究所 === 78 ===

Bibliographic Details
Main Authors:	WU,SHENG,ZHI, 吳昇治
Other Authors:	WANG,DA-HUI
Format:	Others
Language:	zh-TW
Published:	1991
Online Access:	http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/43054442570967034402

id	ndltd-TW-078NCTU2430088
record_format	oai_dc
spelling	ndltd-TW-078NCTU24300882015-10-13T15:21:05Z http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/43054442570967034402 Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究 Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究 WU,SHENG,ZHI 吳昇治碩士國立交通大學電子研究所 78 WANG,DA-HUI 汪大暉 1991 學位論文 ; thesis 0 zh-TW
collection	NDLTD
language	zh-TW
format	Others
sources	NDLTD
description	碩士 === 國立交通大學 === 電子研究所 === 78 ===
author2	WANG,DA-HUI
author_facet	WANG,DA-HUI WU,SHENG,ZHI 吳昇治
author	WU,SHENG,ZHI 吳昇治
spellingShingle	WU,SHENG,ZHI 吳昇治 Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究
author_sort	WU,SHENG,ZHI
title	Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究
title_short	Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究
title_full	Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究
title_fullStr	Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究
title_full_unstemmed	Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究
title_sort	dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究
publishDate	1991
url	http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/43054442570967034402
work_keys_str_mv	AT wushengzhi dxxiànjǐngzhōngxīnduìgāodiànziyídònglǜdiànjīngtǐyuánjiànyǔdiànlùzhīzàntàixiàoyīngyǔkěkàoxìngyánjiū AT wúshēngzhì dxxiànjǐngzhōngxīnduìgāodiànziyídònglǜdiànjīngtǐyuánjiànyǔdiànlùzhīzàntàixiàoyīngyǔkěkàoxìngyánjiū
_version_	1717764318938791936

Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究

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