Hg1-xCDxTe化合物半導體材料組成有機金屬化合物中微量雜質分析
碩士 === 國立清華大學 === 原子科學研究所 === 75 === HG１－xCdxTe三元化合物半導體為紅外線偵檢器的重要材料。由於化合物半導體材料 組成成份（Stoichiometry） 的變化，可能造成對材料物理特性的重大影響，因此為 配合此項材料之研究發展，本研究嘗試建立其組成成份的分析枝術，期能提供該材料 製造技術及物性研究的有力支援。 本研究選用電分析化學上的庫倫電量（Coulometry）法，分別...
| Main Authors: | , |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | zh-TW |
| Published: |
1987
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| Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/95981686151400586759 |