Optical Properties of Low-Dimensional Semiconductor Nanostructures under High Pressure

En el transcurso de este trabajo se han estudiado las propiedades ópticas y vibracionales de nanoestructuras semiconductoras de baja dimensionalidad por medio de espectroscopia Raman y fotoluminiscencia combinadas con la técnica de altas presiones hidrostáticas en una celda de diamantes. Los sistema...

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Bibliographic Details
Main Author: Reparaz, Juan Sebastián
Other Authors: Alonso Carmona, Maria Isabel
Format: Doctoral Thesis
Language:English
Published: Universitat Autònoma de Barcelona 2008
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10803/3419
http://nbn-resolving.de/urn:isbn:9788469214992
id ndltd-TDX_UAB-oai-www.tdx.cat-10803-3419
record_format oai_dc
collection NDLTD
language English
format Doctoral Thesis
sources NDLTD
topic Ciències Experimentals
539 - Constitució física de la matèria
spellingShingle Ciències Experimentals
539 - Constitució física de la matèria
Reparaz, Juan Sebastián
Optical Properties of Low-Dimensional Semiconductor Nanostructures under High Pressure
description En el transcurso de este trabajo se han estudiado las propiedades ópticas y vibracionales de nanoestructuras semiconductoras de baja dimensionalidad por medio de espectroscopia Raman y fotoluminiscencia combinadas con la técnica de altas presiones hidrostáticas en una celda de diamantes. Los sistemas materiales investigados pueden ser clasificados en tres grupos: aleaciones de SiGe, puntos cuánticos de Ge/Si, y puntos cuánticos de CdSe/ZnCdMgSe. Las propiedades vibracionales de las aleaciones de SiGe fueron estudiadas investigando la dependencia en composición de los potenciales de deformación ópticos (K11 y K12). Con esta finalidad se crecieron capas estresadas de SiGe/Si(100) utilizando la técnica de epitaxia por haces moleculares, las cuales fueron posteriormente estudiadas combinando espectroscopia Raman con la técnica de altas presiones. Una vez obtenidos estos potenciales de deformación calculamos la dependencia en composición de parámetros muy utilizados en la literatura como sean el strain-shift coefficient o el parámetro de Grüneisen. La ventaja principal de este método respecto de otros es que es independiente del sistema material estudiado presentándose como una solución a la determinación de la dependencia en composición de los potenciales de deformación. El estado de strain de puntos cuánticos autoensamblados Ge/Si como función del espesor de cap layer sobre los mismos fue investigado utilizando la dependencia con presión de sus vibraciones ópticas (fonones). A medida que se aumenta el espesor del cap layer sobre los puntos cuánticos observamos una transición en el estado de strain de los mismos de una situación biaxial a hidrostática. Este resultado provee un método conveniente para determinar la forma del tensor de strain en sistemas de puntos cuánticos. El estado de strain de puntos cuánticos de CdSe/ZnCdMgSe también fue investigado utilizando espectroscopía Raman. Estimamos la importancia relativa del estado de strain de los mismos frente a los efectos de confinamiento en lo que refiere la dependencia del primer nivel excitado. Finalmente, observamos interdifusión de Mg de la barrera hacia los puntos cuánticos de CdSe en condiciones de resonancia, que fueron logradas mediante la aplicación de presión hidrostática al sistema. La combinación de la técnica de altas presiones con espectroscopía Raman ha resultado ser sumamente útil para estudiar sistemas semiconductores de baja dimensionalidad. Los resultados obtenidos en este trabajo no son originales solamente desde el punto de vista fundamental sino también la combinación propuesta de técnicas experimentales provee una forma alternativa para determinar propiedades físicas que sería sumamente complicado realizar por otros métodos.
author2 Alonso Carmona, Maria Isabel
author_facet Alonso Carmona, Maria Isabel
Reparaz, Juan Sebastián
author Reparaz, Juan Sebastián
author_sort Reparaz, Juan Sebastián
title Optical Properties of Low-Dimensional Semiconductor Nanostructures under High Pressure
title_short Optical Properties of Low-Dimensional Semiconductor Nanostructures under High Pressure
title_full Optical Properties of Low-Dimensional Semiconductor Nanostructures under High Pressure
title_fullStr Optical Properties of Low-Dimensional Semiconductor Nanostructures under High Pressure
title_full_unstemmed Optical Properties of Low-Dimensional Semiconductor Nanostructures under High Pressure
title_sort optical properties of low-dimensional semiconductor nanostructures under high pressure
publisher Universitat Autònoma de Barcelona
publishDate 2008
url http://hdl.handle.net/10803/3419
http://nbn-resolving.de/urn:isbn:9788469214992
work_keys_str_mv AT reparazjuansebastian opticalpropertiesoflowdimensionalsemiconductornanostructuresunderhighpressure
_version_ 1718095260622520320
spelling ndltd-TDX_UAB-oai-www.tdx.cat-10803-34192015-10-21T04:01:53ZOptical Properties of Low-Dimensional Semiconductor Nanostructures under High PressureReparaz, Juan SebastiánCiències Experimentals539 - Constitució física de la matèriaEn el transcurso de este trabajo se han estudiado las propiedades ópticas y vibracionales de nanoestructuras semiconductoras de baja dimensionalidad por medio de espectroscopia Raman y fotoluminiscencia combinadas con la técnica de altas presiones hidrostáticas en una celda de diamantes. Los sistemas materiales investigados pueden ser clasificados en tres grupos: aleaciones de SiGe, puntos cuánticos de Ge/Si, y puntos cuánticos de CdSe/ZnCdMgSe. Las propiedades vibracionales de las aleaciones de SiGe fueron estudiadas investigando la dependencia en composición de los potenciales de deformación ópticos (K11 y K12). Con esta finalidad se crecieron capas estresadas de SiGe/Si(100) utilizando la técnica de epitaxia por haces moleculares, las cuales fueron posteriormente estudiadas combinando espectroscopia Raman con la técnica de altas presiones. Una vez obtenidos estos potenciales de deformación calculamos la dependencia en composición de parámetros muy utilizados en la literatura como sean el strain-shift coefficient o el parámetro de Grüneisen. La ventaja principal de este método respecto de otros es que es independiente del sistema material estudiado presentándose como una solución a la determinación de la dependencia en composición de los potenciales de deformación. El estado de strain de puntos cuánticos autoensamblados Ge/Si como función del espesor de cap layer sobre los mismos fue investigado utilizando la dependencia con presión de sus vibraciones ópticas (fonones). A medida que se aumenta el espesor del cap layer sobre los puntos cuánticos observamos una transición en el estado de strain de los mismos de una situación biaxial a hidrostática. Este resultado provee un método conveniente para determinar la forma del tensor de strain en sistemas de puntos cuánticos. El estado de strain de puntos cuánticos de CdSe/ZnCdMgSe también fue investigado utilizando espectroscopía Raman. Estimamos la importancia relativa del estado de strain de los mismos frente a los efectos de confinamiento en lo que refiere la dependencia del primer nivel excitado. Finalmente, observamos interdifusión de Mg de la barrera hacia los puntos cuánticos de CdSe en condiciones de resonancia, que fueron logradas mediante la aplicación de presión hidrostática al sistema. La combinación de la técnica de altas presiones con espectroscopía Raman ha resultado ser sumamente útil para estudiar sistemas semiconductores de baja dimensionalidad. Los resultados obtenidos en este trabajo no son originales solamente desde el punto de vista fundamental sino también la combinación propuesta de técnicas experimentales provee una forma alternativa para determinar propiedades físicas que sería sumamente complicado realizar por otros métodos.Universitat Autònoma de BarcelonaAlonso Carmona, Maria IsabelGoñi, AlejandroRodriguez Viejo, JavierUniversitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física2008-11-18info:eu-repo/semantics/doctoralThesisinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/10803/3419urn:isbn:9788469214992TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)engADVERTIMENT. L'accés als continguts d'aquesta tesi doctoral i la seva utilització ha de respectar els drets de la persona autora. Pot ser utilitzada per a consulta o estudi personal, així com en activitats o materials d'investigació i docència en els termes establerts a l'art. 32 del Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual (RDL 1/1996). Per altres utilitzacions es requereix l'autorització prèvia i expressa de la persona autora. En qualsevol cas, en la utilització dels seus continguts caldrà indicar de forma clara el nom i cognoms de la persona autora i el títol de la tesi doctoral. No s'autoritza la seva reproducció o altres formes d'explotació efectuades amb finalitats de lucre ni la seva comunicació pública des d'un lloc aliè al servei TDX. Tampoc s'autoritza la presentació del seu contingut en una finestra o marc aliè a TDX (framing). Aquesta reserva de drets afecta tant als continguts de la tesi com als seus resums i índexs.info:eu-repo/semantics/openAccess