Organitzacions de tetratiafulvalens a escala nanomètrica

• Main Author: Gomar Nadal, Elba
• Other Authors: Amabilino, David B.
• Format: Doctoral Thesis
• Language: Catalan
• Published: Universitat Autònoma de Barcelona 2004
• Subjects: Ciències Experimentals; 547 - Química orgànica
• Online Access: http://hdl.handle.net/10803/3192; http://nbn-resolving.de/urn:isbn:8468909491

El projecte de tesis se centra en la síntesi, caracterització i estudi de les propietats estructurals, elèctriques, magnètiques i òptiques de noves organitzacions moleculars en dos i tres dimensions basades en compostos derivats del tetratiafulvalè (TTF). El treball es divideix en dues estratègies:- Per una part, en la sínetsi d'isocianurs quirals que incorporen unitats de tetratiafulvalè per la síntesis de poli(isocianur)s helicoïdals quirals conductors.- I per l'altra, en la preparació de nous TTFs que poden formar agregats supramoleculars per auto-ensamblatge sobre grafit i altres superficies, i el seu estudi estructural mitjançant les técniques de microscopia d'escombrat per efecte túnel (STM, scanning tunneling microscopy) i microscopia de força atómica (AFM, atomic force microscopy). Així com l'estudi de les propietats elèctriques d'aquets agregats mitjançant les tècniques d'espectroscopia d'efecte túnel (STS, scanning tunneling spectroscopy) i cs-AFM (current sensing atomic force microscopy). === Design, chemical synthesis, structural and electronic characterization, materials preparation, study of new organic molecular and supramolecular materials based on tetrathiafulvalene derivatives showing novel electrical, magnetic and optical properties. Two strategies were followed:- Synthesis of chiral tetrathiafulvalens derivatives funcionalized with an isocyanide group to prepare conducting enanthiomeric helical poly(isocyanides).- Preparation and electrical-structural characterization of TTF self-assembled monolayers on surfaces - graphite and gold - using ellipsometry, single reflection ATR infrared spectrocopy, contact angle, scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM).