Estudio de las propiedades como sensor de gas del a-SnWO4

En este trabajo se obtuvo películas delgadas de tungstato de estaño(II) mediante la técnica del "sputtering" reactivo. El proceso de deposición se efectuó mediante el "sputtering" simultáneo (co-sputtering) de dos blancos (targets), uno de tungsteno y otro de estaño, en una atmós...

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Main Author: Solís Véliz, José Luis
Format: Others
Language:es
Published: Universidad Nacional de Ingeniería. Programa Cybertesis PERÚ 1995
Online Access:http://cybertesis.uni.edu.pe/uni/1995/solis_vj/html/index-frames.html
id ndltd-PERUUNI-sdx-cybertesis.uni.edu.pe-80-uni-documents-uni.1995.solis_vj-principal
record_format oai_dc
spelling ndltd-PERUUNI-sdx-cybertesis.uni.edu.pe-80-uni-documents-uni.1995.solis_vj-principal2013-01-08T00:28:04ZSolís Véliz, José LuisEstudio de las propiedades como sensor de gas del a-SnWO41995En este trabajo se obtuvo películas delgadas de tungstato de estaño(II) mediante la técnica del "sputtering" reactivo. El proceso de deposición se efectuó mediante el "sputtering" simultáneo (co-sputtering) de dos blancos (targets), uno de tungsteno y otro de estaño, en una atmósfera de 11% Ü2 / Ar, Para el primer caso se empleó un potencial r.f. y para el segundo caso un potencial d.c. Las películas obtenidas fueron amorfas. Estas fueron cristalizadas térmicamente usando atmósfera reducida, llevando las muestras a temperaturas de 400 °C y 600 °C durante 4 horas. La película delgada obtenida aplicando 150 W de potencia a cada "target" adopta una estructura policristalina con una estructura correspondiente al a-SnWO4 después de un tratamiento térmico a 400 °C. Las películas fueron caracterizadas en sus propiedades estructurales y su composición mediante Difracción de Rayos X (XRD), Espectroscopia de Retrodispersión de Rutherford (RBS), Espectroscopia Mossbauer de Electrones de Conversión (CEMS), Microscopía Electrónica de Barrido (SEM y EDS) y Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). Los resultados de XRD, CEMS, RBS y EDS indican la presencia Sn + y Sn + en las muestras, y además que las fases predominantes en ellas son SnO2 y a-SnWO4. Los parámetros hiperfinos de está última fase se han determinado, no existiendo aún estos datos en la literatura actual. Se estudió el comportamiento eléctrico de las muestras, sometiéndolo a diferentes atmósferas: mezcla de aire sintético (80% N2 y 20% 02) con CO y aire sintético con NO. Se observó un efecto poco común en la interacción CO-película y NO-película. Usualmente, el CO actúa como un gas reductor incrementando la conductancia de un semiconductor tipo n. Sin embargo en este trabajo, a temperaturas debajo de 250 °C, CO actúa como un gas oxidante disminuyendo la conductancia de la película. A temperaturas sobre los 250 °C el CO actúa como gas reductor, tal como usualmente se espera. Este doble comportamiento depende de la composición del material. Si la relación Sn/W es menor de 0.4 no se presenta este doble comportamiento como reductor y oxidante del CO. Efectos similares se observaron también para el NO.Universidad Nacional de Ingeniería. Programa Cybertesis PERÚtext/xmlesSolís Véliz, José Luishttp://cybertesis.uni.edu.pe/uni/1995/solis_vj/html/index-frames.html
collection NDLTD
language es
format Others
sources NDLTD
description En este trabajo se obtuvo películas delgadas de tungstato de estaño(II) mediante la técnica del "sputtering" reactivo. El proceso de deposición se efectuó mediante el "sputtering" simultáneo (co-sputtering) de dos blancos (targets), uno de tungsteno y otro de estaño, en una atmósfera de 11% Ü2 / Ar, Para el primer caso se empleó un potencial r.f. y para el segundo caso un potencial d.c. Las películas obtenidas fueron amorfas. Estas fueron cristalizadas térmicamente usando atmósfera reducida, llevando las muestras a temperaturas de 400 °C y 600 °C durante 4 horas. La película delgada obtenida aplicando 150 W de potencia a cada "target" adopta una estructura policristalina con una estructura correspondiente al a-SnWO4 después de un tratamiento térmico a 400 °C. Las películas fueron caracterizadas en sus propiedades estructurales y su composición mediante Difracción de Rayos X (XRD), Espectroscopia de Retrodispersión de Rutherford (RBS), Espectroscopia Mossbauer de Electrones de Conversión (CEMS), Microscopía Electrónica de Barrido (SEM y EDS) y Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). Los resultados de XRD, CEMS, RBS y EDS indican la presencia Sn + y Sn + en las muestras, y además que las fases predominantes en ellas son SnO2 y a-SnWO4. Los parámetros hiperfinos de está última fase se han determinado, no existiendo aún estos datos en la literatura actual. Se estudió el comportamiento eléctrico de las muestras, sometiéndolo a diferentes atmósferas: mezcla de aire sintético (80% N2 y 20% 02) con CO y aire sintético con NO. Se observó un efecto poco común en la interacción CO-película y NO-película. Usualmente, el CO actúa como un gas reductor incrementando la conductancia de un semiconductor tipo n. Sin embargo en este trabajo, a temperaturas debajo de 250 °C, CO actúa como un gas oxidante disminuyendo la conductancia de la película. A temperaturas sobre los 250 °C el CO actúa como gas reductor, tal como usualmente se espera. Este doble comportamiento depende de la composición del material. Si la relación Sn/W es menor de 0.4 no se presenta este doble comportamiento como reductor y oxidante del CO. Efectos similares se observaron también para el NO.
author Solís Véliz, José Luis
spellingShingle Solís Véliz, José Luis
Estudio de las propiedades como sensor de gas del a-SnWO4
author_facet Solís Véliz, José Luis
author_sort Solís Véliz, José Luis
title Estudio de las propiedades como sensor de gas del a-SnWO4
title_short Estudio de las propiedades como sensor de gas del a-SnWO4
title_full Estudio de las propiedades como sensor de gas del a-SnWO4
title_fullStr Estudio de las propiedades como sensor de gas del a-SnWO4
title_full_unstemmed Estudio de las propiedades como sensor de gas del a-SnWO4
title_sort estudio de las propiedades como sensor de gas del a-snwo4
publisher Universidad Nacional de Ingeniería. Programa Cybertesis PERÚ
publishDate 1995
url http://cybertesis.uni.edu.pe/uni/1995/solis_vj/html/index-frames.html
work_keys_str_mv AT solisvelizjoseluis estudiodelaspropiedadescomosensordegasdelasnwo4
_version_ 1716499385338036224