近赤外分光法を用いた新しい非破壊年代測定法の開発(第16回名古屋大学タンデトロン加速器質量分析計シンポジウム平成15(2003)年度報告)

近赤外分光法を用いた新しい非破壊年代測定法の開発(第16回名古屋大学タンデトロン加速器質量分析計シンポジウム平成15(2003)年度報告)

第16回名古屋大学タンデトロン加速器質量分析計シンポジウム(平成15年(2003年度)報告 Proceedings of the 16th Symposium on Researches Using the Tandetron AMS System at Nagoya University in 2003 日時:平成16(2004)年1月22日(木)､23日(金) 会場:名古屋大学シンポジオン Date:January 22nd and 23rd,2004 Place:Nagoya University Symposion Hall...

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Bibliographic Details
Main Authors: Siesler, Heinz W., 米延, 仁志, Yonenobu, Hitoshi, 土川, 覚, Tsuchikawa, Satoru, 小田, 寛貴, Oda, Hirotaka
Language:ja
Published: 名古屋大学年代測定資料研究センター 2004
Online Access:http://hdl.handle.net/2237/13598

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