Adaptation de l'approche de test CDIDDQ aux circuits programmables FPGA
Ce mémoire propose l’adaptation de la technique de test de courts-circuits CDIDDQ, développée au départ pour les circuits intégrés de type ASIC, pour le test des circuits intégrés configurables de type FPGA à base de SRAM. Après une présentation de l'architecture des circuits ciblés et une r...
| Main Author: | |
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| Format: | Others |
| Published: |
École de technologie supérieure
2011
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| Online Access: | http://espace.etsmtl.ca/940/1/KHALED_Haithem.pdf http://espace.etsmtl.ca/940/2/KHALED_Haithem%2Dweb.pdf |