Development of the EBSD Intensity Response for Quantitative Strain Analyses of Materials

• Main Author: Cocle, Jennifer
• Other Authors: Prof. Raynald Gauvin (Supervisor) and Prof. Stephen Vue (project coordinator)
• Format: Others
• Language: en
• Published: McGill University 2008
• Subjects: Materials > Fatigue > Testing; Strains and stresses > Testing; Materials > Fatigue > Testing.; Strains and stresses > Testing; Diffraction patterns; Scanning electron microscopy
• Online Access: http://digitool.Library.McGill.CA:80/R/?func=dbin-jump-full&object_id=93017

Electron BackScattered Diffraction (EBSD) systems can be considered as a tool providing three kinds of responses: EBSD patterns (EBSPs) themselves, an indexing response (orientation data), and an intensity response (also called Band Contrast "BC", Image Quality "IQ", or Pattern Quality "PQ or P"). This work focused on the characterization and development of the intensity response. For now, the intensity response cannot be used for quantitative microstructural analyses, including strain analyses of materials. Indeed, this response is affected by several material and experimental conditions. Moreover, properties of the intensity response (strain sensitivity, reproducibility, exact relation with EBSP quality or diffraction band intensities) are not well-known and understood. This project constitutes an exploratory study on the development of the intensity response for quantitative strain analyses of materials. A new modelling and statistical approach is presented and assessed for transforming the raw (current) intensity response (values and grey-tones of intensity images) of commercial EBSD systems into an accurate and reproducible parameter allowing objective visualization and measurements of strain. === Les systèmes de diffraction des électrons rétro-diffusés (EBSD) peuvent être considérés comme un outil offrant trois types de réponses: les patrons EBSD (EBSPs), la réponse d'indexation (données d'orientation) et la réponse d'intensité (aussi appelée Contraste de Bande «BC », Qualité d'Image « IQ », ou Qualité de Patron « PQ ou P »). Le présent projet s'est concentré sur la caractérisation et le développement de la réponse d'intensité. En effet, pour l'instant, la réponse d'intensité ne peut être utilisée pour réaliser des analyses microstructurales quantitatives des matériaux. En effet, cette réponse est influencée par de nombreux facteurs relatifs au matériau analysé et aux conditions expérimentales utilisées. De plus, les propriétés de la réponse d'intensité (sensibilité à la déformation, reproductibilité, relation exacte avec la qualité des EBSPs ou les intensités des bandes de diffraction) ne sont pour l'instant pas bien connues ni même compnses. Le présent projet représente donc une étude exploratoire visant le développement de la réponse d'intensité des systèmes EBSD commerciaux pour l'analyse quantitative de la déformation des matériaux. Dans ce projet, une approche de modélisation statistique est présentée et évaluée afin de transformer la réponse d'intensité actuelle (valeurs et tons de gris des images d'intensité) des systèmes EBSD commerciaux en une réponse précise et reproductible permettant de visualiser et de mesurer objectivement la déformation.