Testinių rinkinių atrinkimo programinės įrangos sudarymas ir tyrimas

• Main Author: Drovnenkov, Aleksej
• Other Authors: Stulpinas, Raimundas
• Format: Dissertation
• Language: Lithuanian
• Published: Lithuanian Academic Libraries Network (LABT) 2007
• Subjects: Informatics; Testiniai rinkiniai; ATPG; Automatinis testų sudarymas; Atrinkimo algoritmai; Test suites; Authomated test pattern generation; Test vector finding algorithms
• Online Access: http://vddb.library.lt/fedora/get/LT-eLABa-0001:E.02~2007~D_20070816_143508-11175/DS.005.0.01.ETD

Automatinis testų rinkinių generavimas (pasaulyje priimtas angliškas sutrumpinimas – ATPG) yra pakankamai senai sprendžiama problema. Jos tikslas – surasti optimalų testinių vektorių sekas, kurios pilnai užtikrintų visas schemos gamybos etape padarytas klaidas per mažiausią laiką. Vienas iš skaitmeninių schemų testavimo ir testų rinkinių sudarymo metodas yra funkcinis testavimo metodas. Jo privalumai yra tame, kad testų rinkinių sudarymo programa nežino schemos vidinės struktūros, o testuoja tik idealų schemos modelį, kuri yra pateikta juodos dėžės pavidale, tai yra programa gali gauti idealaus schemos reakciją į tam tikrą įvedimo signalų vektorių. Šiame darbe parinktas funkcinis testavimo metodas. Šiame darbe aprašoma testinių rinkinių atrinkimo programinės įrangos teorinė bazė, automatinio testų rinkinio formavimo trumpa istorinė apžvalga, baltos ir juodos dėžės modelių pagristų formavimo algoritmų palyginimai. Aprašoma programų sistemos statinė struktūra bei jos komponentai, sistemos panaudojimo atvejai. Tyrimų dalyje aprašoma tyrimo metodika, siūlomi programos kokybės tobulinimo metodai. Eksperimentų dalyje aprašomi tyrimų eksperimentų rezultatai. === Automated test pattern generation (ATPG) problem is being solved for a relatively long time. Its' point is to find optimal test vector sequences, which would cover most of all production-caused digital circuit faults and would run for the minimum amount of time. One of the ways to test and generate test vectors for digital circuits is functional test method. Its' benefit is that system does not need to be aware of digital circuit's inner logical model, but has to deal only with the input, so that just the ideal model of the digital circuit can be used as a "black box". The program's algorithm can get ideal digital circuit's reaction for corresponding input test vector. This paper will mostly cover functional model approach to ATPG. This paper covers automated test vector generation software basic theory with brief historical review, comparison of white box and black box models' testing and test vector generation algorithms. Also the software's static structures along with its components, system’s typical use cases are covered. The research part of the paper is focused mostly on the algorithms used, containing research methods which provide the results for the experiment part.