Low cost BIST techniques for linear and non-linear analog circuits

Low cost BIST techniques for linear and non-linear analog circuits

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Bibliographic Details
Main Author: Negreiros, Marcelo
Other Authors: Carro, Luigi
Format: Others
Language:English
Published: 2007
Subjects:
Eletrônica
Testes : Circuitos integrados
Analog testing
Analog BIST
RF test
Low cost analog test
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/6225

Internet

http://hdl.handle.net/10183/6225

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