Exploração de reordenamento de ROBDDs no mapeamento tecnológico de circuitos integrados

• Main Author: Cardoso, Tiago Muller Gil
• Other Authors: Reis, Andre Inacio
• Format: Others
• Language: Portuguese
• Published: 2011
• Subjects: Microeletrônica; Circuitos integrados; BBDs; BDDs; Technology mapping; Transistor reordering; Cell generator
• Online Access: http://hdl.handle.net/10183/32859

Os ROBDDs são estruturas utilizadas com sucesso em ferramentas de CAD para microeletrônica. Estas estruturas permitem a representação canônica de funções booleanas ao se estabelecer um ordenamento fixo de variáveis. No contexto de um gerador automático de células lógicas para circuitos integrados, os ROBDDs podem servir de base para a derivação de redes de transistores cujo comportamento elétrico equivale ao comportamento lógico de uma função booleana desejada. Nas redes de transistores derivadas de ROBDDs, o posicionamento relativo dos transistores é determinado pelo ordenamento de variáveis. O efeito do reordenamento de transistores já foi estudado na década de noventa e sabe-se de sua influência sobre características de área, atraso e potência de um circuito digital. Entretanto, estes estudos limitam-se à topologia CMOS complementar série/paralelo, que é a topologia de redes de transistores mais comum. Neste trabalho, explora-se o efeito do reordenamento de variáveis nas características de área e atraso de circuitos mapeados com seis famílias lógicas diferentes, cujas células constituem redes de transistores derivadas de ROBDDs. Em geral, os resultados dos experimentos indicam que, para estas famílias lógicas, selecionar ordenamentos, onde transistores controlados por sinais mais críticos posicionam-se relativamente mais próximos à saída da célula, pode levar ao mapeamento de circuitos com atraso 16,4% inferior, em média, ao atraso do circuito equivalente com ordenamentos selecionados para obtenção da menor área possível e ignorando-se os atrasos de chegada nas entradas de uma célula. === The ROBDDs are structures that have been successfully used in CAD tools for microelectronics. These structures allow canonical representation of boolean functions when established a fixed variable ordering. In the context of an automatic logic cell generator for integrated circuits, ROBDDs may serve as a base for deriving transistor networks from which electrical behavior is equivalent to the logic behavior of a specified boolean function. With ROBDD derived transistor networks, the relative placement of transistors is determined by variable ordering. The effect of transistor reordering was already studied in the nineties and we know about its influence over area, delay and power characteristics of an integrated circuit. However, these studies were limited to complementary series/parallel CMOS topology, which is the standard for transistor networks topology. In this work, the effect of variable reordering is explored over area and delay characteristics of circuits mapped to six different logic families, where cells are designed with ROBDD derived transistor networks. Experimental results indicate that, in general, placing transistors controlled by the most critical signals closer to cell output may lead to a circuit mapping with an average 16.4% less delay than an equivalent circuit where orderings for smallest possible area are selected and input arrival times of a cell are ignored.