Variabilidade em FinFETs
Circuitos integrados VLSI (Very Large Scale Integration) usando nanotecnologia demandam novos materiais, estruturas, metodologias de projeto e ferramentas de CAD para lidar com os problemas decorrentes do processo de fabricação, tais como variabilidade. Alguns tipos de concepção são mais ou menos ro...
Main Author: | Meinhardt, Cristina |
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Other Authors: | Reis, Ricardo Augusto da Luz |
Format: | Others |
Language: | Portuguese |
Published: |
2015
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Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/114799 |
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