Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.

Um fator importante para o desenvolvimento de projetos de microssistemas é o conhecimento de propriedades termomecânicas dos materiais e a compreensão dos mecanismos de falhas. Este trabalho estuda o comportamento mecânico de microvigas atuadas termicamente e propõem um método para ser utilizado...

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Main Author: Marcelo Silva Guimarães
Other Authors: Amilton Sinatora
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 2002
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-12072002-131428/
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spelling ndltd-IBICT-oai-teses.usp.br-tde-12072002-1314282019-01-21T23:22:39Z Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS. Proposition of thin films thermomechanical characterization using MEMS devices. Marcelo Silva Guimarães Amilton Sinatora Marcelo Nelson Paez Carreno Luiz Otávio Saraiva Ferreira filmes finos flambagem MEMS microscopia nomarski microssistemas propriedades mecânicas propriedades térmicas buckling mechanical properties microelectromechanical systems nomarski microscopy thermophysical properties thin films Um fator importante para o desenvolvimento de projetos de microssistemas é o conhecimento de propriedades termomecânicas dos materiais e a compreensão dos mecanismos de falhas. Este trabalho estuda o comportamento mecânico de microvigas atuadas termicamente e propõem um método para ser utilizado na caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos. Fabricou-se vigas de Oxinitreto de Silício em que se aplicou a microscopia Nomarski para observar a deformação e a ocorrência do fenômeno de flambagem. An important factor to develop microsystems is knowledge of materials properties and failure mechanisms. This research studies the thermal actuated microbeam mechanical behavior and propose a method in order to characterize thermomechanical properties of thin films. Silicon Oxynitride microbeams are fabricated and Nomarski microscopy was applied to observe strain and buckling phenomenon ocurrence. 2002-03-18 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-12072002-131428/ por info:eu-repo/semantics/openAccess Universidade de São Paulo Engenharia Mecânica USP BR reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP instname:Universidade de São Paulo instacron:USP
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Marcelo Silva Guimarães
Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.
description Um fator importante para o desenvolvimento de projetos de microssistemas é o conhecimento de propriedades termomecânicas dos materiais e a compreensão dos mecanismos de falhas. Este trabalho estuda o comportamento mecânico de microvigas atuadas termicamente e propõem um método para ser utilizado na caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos. Fabricou-se vigas de Oxinitreto de Silício em que se aplicou a microscopia Nomarski para observar a deformação e a ocorrência do fenômeno de flambagem. === An important factor to develop microsystems is knowledge of materials properties and failure mechanisms. This research studies the thermal actuated microbeam mechanical behavior and propose a method in order to characterize thermomechanical properties of thin films. Silicon Oxynitride microbeams are fabricated and Nomarski microscopy was applied to observe strain and buckling phenomenon ocurrence.
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