Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.
Um fator importante para o desenvolvimento de projetos de microssistemas é o conhecimento de propriedades termomecânicas dos materiais e a compreensão dos mecanismos de falhas. Este trabalho estuda o comportamento mecânico de microvigas atuadas termicamente e propõem um método para ser utilizado...
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Language: | Portuguese |
Published: |
Universidade de São Paulo
2002
|
Subjects: | |
Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-12072002-131428/ |
id |
ndltd-IBICT-oai-teses.usp.br-tde-12072002-131428 |
---|---|
record_format |
oai_dc |
spelling |
ndltd-IBICT-oai-teses.usp.br-tde-12072002-1314282019-01-21T23:22:39Z Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS. Proposition of thin films thermomechanical characterization using MEMS devices. Marcelo Silva Guimarães Amilton Sinatora Marcelo Nelson Paez Carreno Luiz Otávio Saraiva Ferreira filmes finos flambagem MEMS microscopia nomarski microssistemas propriedades mecânicas propriedades térmicas buckling mechanical properties microelectromechanical systems nomarski microscopy thermophysical properties thin films Um fator importante para o desenvolvimento de projetos de microssistemas é o conhecimento de propriedades termomecânicas dos materiais e a compreensão dos mecanismos de falhas. Este trabalho estuda o comportamento mecânico de microvigas atuadas termicamente e propõem um método para ser utilizado na caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos. Fabricou-se vigas de Oxinitreto de Silício em que se aplicou a microscopia Nomarski para observar a deformação e a ocorrência do fenômeno de flambagem. An important factor to develop microsystems is knowledge of materials properties and failure mechanisms. This research studies the thermal actuated microbeam mechanical behavior and propose a method in order to characterize thermomechanical properties of thin films. Silicon Oxynitride microbeams are fabricated and Nomarski microscopy was applied to observe strain and buckling phenomenon ocurrence. 2002-03-18 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-12072002-131428/ por info:eu-repo/semantics/openAccess Universidade de São Paulo Engenharia Mecânica USP BR reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP instname:Universidade de São Paulo instacron:USP |
collection |
NDLTD |
language |
Portuguese |
sources |
NDLTD |
topic |
filmes finos
flambagem MEMS microscopia nomarski microssistemas propriedades mecânicas propriedades térmicas buckling mechanical properties microelectromechanical systems nomarski microscopy thermophysical properties thin films |
spellingShingle |
filmes finos
flambagem MEMS microscopia nomarski microssistemas propriedades mecânicas propriedades térmicas buckling mechanical properties microelectromechanical systems nomarski microscopy thermophysical properties thin films Marcelo Silva Guimarães Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS. |
description |
Um fator importante para o desenvolvimento de projetos de microssistemas é o conhecimento de propriedades termomecânicas dos materiais e a compreensão dos mecanismos de falhas. Este trabalho estuda o comportamento mecânico de microvigas atuadas termicamente e propõem um método para ser utilizado na caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos. Fabricou-se vigas de Oxinitreto de Silício em que se aplicou a microscopia Nomarski para observar a deformação e a ocorrência do fenômeno de flambagem.
===
An important factor to develop microsystems is knowledge of materials properties and failure mechanisms. This research studies the thermal actuated microbeam mechanical behavior and propose a method in order to characterize thermomechanical properties of thin films. Silicon Oxynitride microbeams are fabricated and Nomarski microscopy was applied to observe strain and buckling phenomenon ocurrence.
|
author2 |
Amilton Sinatora |
author_facet |
Amilton Sinatora Marcelo Silva Guimarães |
author |
Marcelo Silva Guimarães |
author_sort |
Marcelo Silva Guimarães |
title |
Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.
|
title_short |
Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.
|
title_full |
Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.
|
title_fullStr |
Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.
|
title_full_unstemmed |
Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.
|
title_sort |
proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos mems. |
publisher |
Universidade de São Paulo |
publishDate |
2002 |
url |
http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-12072002-131428/ |
work_keys_str_mv |
AT marcelosilvaguimaraes propostademetodoparacaracterizacaodepropriedadestermomecanicasdefilmesfinosutilizandodispositivosmems AT marcelosilvaguimaraes propositionofthinfilmsthermomechanicalcharacterizationusingmemsdevices |
_version_ |
1718905754751074304 |