Sistema de análise de imagens SEBS por microscopia de força atômica

Sistema de análise de imagens SEBS por microscopia de força atômica

Neste trabalho, se pretende caracterizar a morfologia de filmes finos poliméricos por meio de técnicas de processamento de imagens, utilizando principalmente a geometria computacional e técnicas de classificação de padrões. Os objetivos principais foram quantificar as grandezas geométricas das e...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Carolina Elisa Guillen Valencia
Other Authors: Odemir Martinez Bruno
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 2014
Subjects:
Análise de imagens
Filmes finos copolímeros SEBS
Microscopia de forca atômica (AFM)
Atomic force microscopy (AFM)
Image analysis
SEBS thin film polymers
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/

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