Analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits
Submitted by Setor de Tratamento da Informa??o - BC/PUCRS (tede2@pucrs.br) on 2016-04-19T18:32:43Z No. of bitstreams: 1 DIS_MATHEUS_GIBILUKA_COMPLETO.pdf: 3498426 bytes, checksum: 534aec97d6aa9dfc7b535a7f65087ae1 (MD5) === Made available in DSpace on 2016-04-19T18:32:43Z (GMT). No. of bitstreams: 1...
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Others |
Language: | English |
Published: |
Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul
2016
|
Subjects: | |
Online Access: | http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/6615 |
id |
ndltd-IBICT-oai-tede2.pucrs.br-tede-6615 |
---|---|
record_format |
oai_dc |
collection |
NDLTD |
language |
English |
format |
Others
|
sources |
NDLTD |
topic |
CIRCUITOS ASS?NCRONOS CIRCUITOS DIGITAIS INFORM?TICA CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::CIENCIA DA COMPUTACAO |
spellingShingle |
CIRCUITOS ASS?NCRONOS CIRCUITOS DIGITAIS INFORM?TICA CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::CIENCIA DA COMPUTACAO Gibiluka, Matheus Analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits |
description |
Submitted by Setor de Tratamento da Informa??o - BC/PUCRS (tede2@pucrs.br) on 2016-04-19T18:32:43Z
No. of bitstreams: 1
DIS_MATHEUS_GIBILUKA_COMPLETO.pdf: 3498426 bytes, checksum: 534aec97d6aa9dfc7b535a7f65087ae1 (MD5) === Made available in DSpace on 2016-04-19T18:32:43Z (GMT). No. of bitstreams: 1
DIS_MATHEUS_GIBILUKA_COMPLETO.pdf: 3498426 bytes, checksum: 534aec97d6aa9dfc7b535a7f65087ae1 (MD5)
Previous issue date: 2016-03-04 === Although the advancement of semiconductor technology enable the fabrication of
devices with increasingly reduced propagation delay, potentially leading to higher operating
frequencies, manufacturing process variability grows very aggressively in modern processes. To cope with growing variability phenomena, significant delay margins need to be added to clock signal?s periods, to ensure timing closure, which limits performance gains and constrains power efficiency. Among the several techniques that have been explored in the last decades to address these problems, three are quite relevant and promising either in isolation or combined: voltage scaling, asynchronous circuits and resilient architectures. This work investigates how voltage scaling affects circuit path delays, and produces three sets of original contributions. The first set establishes a technique to ensure that circuits synthesized with a reduced library achieve results comparable to the full library, while keeping functionality at low supply voltages. The second set of contributions composes a method to extend the voltage corners supported by standard cell libraries. This takes place through new library characterization techniques. The third set of contributions provides insights on the effects of voltage scaling in the design of resilient circuits. This analysis evaluates supply voltages in super- and sub-threshold levels. === Embora o avan?o da tecnologia de semicondutores permita a fabrica??o de dispositivos
com atrasos de propaga??o reduzidos, potencialmente habilitando o aumento da
frequ?ncia de opera??o, as varia??es em processos de fabrica??o modernos crescem de
forma muito agressiva. Para lidar com este problema, significativas margens de atraso devem
ser adicionadas ao per?odo de sinais de rel?gio, limitando os ganhos em desempenho
e a efici?ncia energ?tica do circuito. Entre as diversas t?cnicas exploradas nas ?ltimas d?cadas
para amenizar esta dificuldade, tr?s se destacam como relevantes e promissoras,
isoladas ou combinadas: a redu??o da tens?o de alimenta??o, o uso de projeto ass?ncrono
e arquiteturas resilientes. Este trabalho investiga como a redu??o de tens?o de alimenta??o
afeta os atrasos de caminhos em circuitos digitais, e produz tr?s contribui??es originais. A
primeira ? a defini??o uma t?cnica para garantir que circuitos sintetizados com um conjunto
reduzido de c?lulas atinjam resultados comparaveis aos da biblioteca completa, mantendo
a sua funcionalidade mesmo quando alimentados por tens?es reduzidas. A segunda ? a
composi??o de um m?todo para estender o suporte a n?veis de tens?o de alimenta??o para
bibliotecas de c?lulas padr?o providas por fabicantes de CIs, atrav?s de novas t?cnicas de
caracteriza??o de bibliotecas. A terceira ? a an?lise dos efeitos do escalamento de tens?o
no projeto de circuitos resilientes, considerando tens?es de alimenta??o superiores e
inferiores ? tens?o de limiar dos transistores. |
author2 |
Calazans, Ney Laert Vilar |
author_facet |
Calazans, Ney Laert Vilar Gibiluka, Matheus |
author |
Gibiluka, Matheus |
author_sort |
Gibiluka, Matheus |
title |
Analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits |
title_short |
Analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits |
title_full |
Analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits |
title_fullStr |
Analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits |
title_full_unstemmed |
Analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits |
title_sort |
analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits |
publisher |
Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul |
publishDate |
2016 |
url |
http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/6615 |
work_keys_str_mv |
AT gibilukamatheus analysisofvoltagescalingeffectsinthedesignofresilientcircuits AT gibilukamatheus anlisedosefeitosdeescalamentodetensonoprojetodecircuitosresilientes |
_version_ |
1718954807627087872 |
spelling |
ndltd-IBICT-oai-tede2.pucrs.br-tede-66152019-01-22T02:43:36Z Analysis of voltage scaling effects in the design of resilient circuits An?lise dos efeitos de escalamento de tens?o no projeto de circuitos resilientes Gibiluka, Matheus Calazans, Ney Laert Vilar CIRCUITOS ASS?NCRONOS CIRCUITOS DIGITAIS INFORM?TICA CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::CIENCIA DA COMPUTACAO Submitted by Setor de Tratamento da Informa??o - BC/PUCRS (tede2@pucrs.br) on 2016-04-19T18:32:43Z No. of bitstreams: 1 DIS_MATHEUS_GIBILUKA_COMPLETO.pdf: 3498426 bytes, checksum: 534aec97d6aa9dfc7b535a7f65087ae1 (MD5) Made available in DSpace on 2016-04-19T18:32:43Z (GMT). No. of bitstreams: 1 DIS_MATHEUS_GIBILUKA_COMPLETO.pdf: 3498426 bytes, checksum: 534aec97d6aa9dfc7b535a7f65087ae1 (MD5) Previous issue date: 2016-03-04 Although the advancement of semiconductor technology enable the fabrication of devices with increasingly reduced propagation delay, potentially leading to higher operating frequencies, manufacturing process variability grows very aggressively in modern processes. To cope with growing variability phenomena, significant delay margins need to be added to clock signal?s periods, to ensure timing closure, which limits performance gains and constrains power efficiency. Among the several techniques that have been explored in the last decades to address these problems, three are quite relevant and promising either in isolation or combined: voltage scaling, asynchronous circuits and resilient architectures. This work investigates how voltage scaling affects circuit path delays, and produces three sets of original contributions. The first set establishes a technique to ensure that circuits synthesized with a reduced library achieve results comparable to the full library, while keeping functionality at low supply voltages. The second set of contributions composes a method to extend the voltage corners supported by standard cell libraries. This takes place through new library characterization techniques. The third set of contributions provides insights on the effects of voltage scaling in the design of resilient circuits. This analysis evaluates supply voltages in super- and sub-threshold levels. Embora o avan?o da tecnologia de semicondutores permita a fabrica??o de dispositivos com atrasos de propaga??o reduzidos, potencialmente habilitando o aumento da frequ?ncia de opera??o, as varia??es em processos de fabrica??o modernos crescem de forma muito agressiva. Para lidar com este problema, significativas margens de atraso devem ser adicionadas ao per?odo de sinais de rel?gio, limitando os ganhos em desempenho e a efici?ncia energ?tica do circuito. Entre as diversas t?cnicas exploradas nas ?ltimas d?cadas para amenizar esta dificuldade, tr?s se destacam como relevantes e promissoras, isoladas ou combinadas: a redu??o da tens?o de alimenta??o, o uso de projeto ass?ncrono e arquiteturas resilientes. Este trabalho investiga como a redu??o de tens?o de alimenta??o afeta os atrasos de caminhos em circuitos digitais, e produz tr?s contribui??es originais. A primeira ? a defini??o uma t?cnica para garantir que circuitos sintetizados com um conjunto reduzido de c?lulas atinjam resultados comparaveis aos da biblioteca completa, mantendo a sua funcionalidade mesmo quando alimentados por tens?es reduzidas. A segunda ? a composi??o de um m?todo para estender o suporte a n?veis de tens?o de alimenta??o para bibliotecas de c?lulas padr?o providas por fabicantes de CIs, atrav?s de novas t?cnicas de caracteriza??o de bibliotecas. A terceira ? a an?lise dos efeitos do escalamento de tens?o no projeto de circuitos resilientes, considerando tens?es de alimenta??o superiores e inferiores ? tens?o de limiar dos transistores. 2016-04-19T18:32:43Z 2016-03-04 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/6615 eng 1974996533081274470 600 600 600 -3008542510401149144 3671711205811204509 info:eu-repo/semantics/openAccess application/pdf Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul Programa de P?s-Gradua??o em Ci?ncia da Computa??o PUCRS Brasil Faculdade de Inform?tica reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul instacron:PUC_RS |