Aplica??o de filmes finos de tit?nio em componentes acetabulares de uhmwpe para prote??o contra oxida??o devido a exposi??o ? radia??o X
Made available in DSpace on 2015-04-14T13:59:17Z (GMT). No. of bitstreams: 1 383160.pdf: 3194550 bytes, checksum: cc6dcfdfc93d7782e5f949d40152d488 (MD5) Previous issue date: 2006-07-17 === Os implantes de quadril s?o constitu?dos de uma cabe?a esf?rica met?lica que e. g., ? de a?o inoxid?vel 316-L...
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Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul
2015
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ndltd-IBICT-oai-tede2.pucrs.br-tede-32862019-01-22T02:31:43Z Aplica??o de filmes finos de tit?nio em componentes acetabulares de uhmwpe para prote??o contra oxida??o devido a exposi??o ? radia??o X Vasconcellos, Let?cia Ara?jo H?bler, Roberto ENGENHARIA DE MATERIAIS TIT?NIO OXIDA??O PR?TESE ORTOP?DICA RAIOS X POL?MEROS RESIST?NCIA DOS MATERIAIS CNPQ::ENGENHARIAS Made available in DSpace on 2015-04-14T13:59:17Z (GMT). No. of bitstreams: 1 383160.pdf: 3194550 bytes, checksum: cc6dcfdfc93d7782e5f949d40152d488 (MD5) Previous issue date: 2006-07-17 Os implantes de quadril s?o constitu?dos de uma cabe?a esf?rica met?lica que e. g., ? de a?o inoxid?vel 316-L ou ligas de Cr-Co, al?m de um componente polim?rico (UHMWPE). A aplica??o da radia??o gama usada no processo de esteriliza??o e dos raios X de diagn?stico utilizados no controle cl?nico da pr?tese podem contribuir na degrada??o prematura da superf?cie do UHMWPE resultando numa diminui??o do seu tempo de vida ?til. Neste trabalho, foi estudado o grau de prote??o de revestimentos tipo filme fino de tit?nio sobre o componente polim?rico (UHMWPE) em fun??o da exposi??o aos raios X de diagn?stico, comparando-os com os pol?meros n?o revestidos que tamb?m foram expostos ao mesmo tipo de radia??o. Parte destas amostras foram submersas em uma solu??o de HBSS (Hank s Balanced Salt Solution), a qual ? freq?entemente utilizada em culturas de c?lulas, pois simula o meio fisiol?gico do organismo humano. As amostras foram analisadas por diversas t?cnicas de caracteriza??o, dentre elas, a t?cnica de nanodureza para uma an?lise das propriedades mec?nicas do pol?mero, microscopia eletr?nica de varredura (MEV) para observa??o da qualidade superficial do UHMWPE e infravermelho por transformada de Fourier (FTIR) para avalia??o das modifica??es na composi??o qu?mica do pol?mero. Ap?s serem irradiadas, as amostras utilizadas na primeira parte do trabalho, os resultados dos testes de nanodureza levaram a concluir que as propriedades mec?nicas do UHMWPE variam de lote para lote. As an?lises de MEV indicaram dois fatos claros: primeiramente que as amostras revestidas apresentavam uma qualidade superficial com menos danos que as amostras revestidas em concord?ncia com as an?lises de nanodureza e FTIR. Desta forma, com base nos resultados obtidos, podemos concluir que nossa hip?tese inicial, de que uma fina camada de tit?nio pode diminuir a oxida??o superficial do UHMWPE, ? verdadeira. 2015-04-14T13:59:17Z 2006-10-23 2006-07-17 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis VASCONCELLOS, Let?cia Ara?jo. Aplica??o de filmes finos de tit?nio em componentes acetabulares de uhmwpe para prote??o contra oxida??o devido a exposi??o ? radia??o X. 2006. 128 f. Disserta??o (Mestrado em Engenharia e Tecnologia de Materiais) - Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2006. http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3286 por -7432719344215120122 500 600 -655770572761439785 info:eu-repo/semantics/openAccess application/pdf Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul Programa de P?s-Gradua??o em Engenharia e Tecnologia de Materiais PUCRS BR Faculdade de Engenharia reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul instacron:PUC_RS |
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Previous issue date: 2006-07-17 === Os implantes de quadril s?o constitu?dos de uma cabe?a esf?rica met?lica que e. g., ? de a?o inoxid?vel 316-L ou ligas de Cr-Co, al?m de um componente polim?rico (UHMWPE). A aplica??o da radia??o gama usada no processo de esteriliza??o e dos raios X de diagn?stico utilizados no controle cl?nico da pr?tese podem contribuir na degrada??o prematura da superf?cie do UHMWPE resultando numa diminui??o do seu tempo de vida ?til. Neste trabalho, foi estudado o grau de prote??o de revestimentos tipo filme fino de tit?nio sobre o componente polim?rico (UHMWPE) em fun??o da exposi??o aos raios X de diagn?stico, comparando-os com os pol?meros n?o revestidos que tamb?m foram expostos ao mesmo tipo de radia??o. Parte destas amostras foram submersas em uma solu??o de HBSS (Hank s Balanced Salt Solution), a qual ? freq?entemente utilizada em culturas de c?lulas, pois simula o meio fisiol?gico do organismo humano. As amostras foram analisadas por diversas t?cnicas de caracteriza??o, dentre elas, a t?cnica de nanodureza para uma an?lise das propriedades mec?nicas do pol?mero, microscopia eletr?nica de varredura (MEV) para observa??o da qualidade superficial do UHMWPE e infravermelho por transformada de Fourier (FTIR) para avalia??o das modifica??es na composi??o qu?mica do pol?mero. Ap?s serem irradiadas, as amostras utilizadas na primeira parte do trabalho, os resultados dos testes de nanodureza levaram a concluir que as propriedades mec?nicas do UHMWPE variam de lote para lote. As an?lises de MEV indicaram dois fatos claros: primeiramente que as amostras revestidas apresentavam uma qualidade superficial com menos danos que as amostras revestidas em concord?ncia com as an?lises de nanodureza e FTIR. Desta forma, com base nos resultados obtidos, podemos concluir que nossa hip?tese inicial, de que uma fina camada de tit?nio pode diminuir a oxida??o superficial do UHMWPE, ? verdadeira. |
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