Automatização de medidas fotomicrodensitométricas

Orientador: Armando Turtelli Junior === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-07-17T12:07:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Vieira_SibeliusLellis_M.pdf: 2859885 bytes, checksum: 660982846a7ffabc5e196f9c7e4b4e5...

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Bibliographic Details
Main Author: Vieira, Sibelius Lellis
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 1987
Subjects:
Online Access:VIEIRA, Sibelius Lellis. Automatização de medidas fotomicrodensitométricas. 1987. 106f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277332>. Acesso em: 17 jul. 2018.
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spelling ndltd-IBICT-oai-repositorio.unicamp.br-REPOSIP-2773322019-01-21T20:18:50Z Automatização de medidas fotomicrodensitométricas Vieira, Sibelius Lellis UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS Turtelli Junior, Armando, 1942- Automação Microprocessadores Circuitos de interface Orientador: Armando Turtelli Junior Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin Made available in DSpace on 2018-07-17T12:07:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Vieira_SibeliusLellis_M.pdf: 2859885 bytes, checksum: 660982846a7ffabc5e196f9c7e4b4e5f (MD5) Previous issue date: 1987 Resumo: Apresentamos neste trabalho um sistema de automatização de medidas em fotodensitometria microscópica. Basicamente, tais medidas se constituem em quantificar as relações entre a Intensidade de um feixe transmitindo a relação à Intensidade do feixe incidente em filmes de Raio-X. No processo de automatização, implementamos o hardware e o software de uma Interface inteligente, baseada no microprocessador Z80, cujo objetivo é controlar a aquisição de dados do Fotomicrodensitômetro. Além de controlar a aquisição e transmissão de dados, a Interface é responsável pelo comando do Motor de Passo acoplado ao equipamento. Tal sistema facilita a análise de dados dos filmes de Raio-X, bem como proporciona melhor resolução e confiabilidade às medidas Abstract: Not informed. Mestrado Física Mestre em Física 1987 2018-07-17T12:07:19Z 2018-07-17T12:07:19Z 1987-09-25T00:00:00Z info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis VIEIRA, Sibelius Lellis. Automatização de medidas fotomicrodensitométricas. 1987. 106f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277332>. Acesso em: 17 jul. 2018. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277332 por info:eu-repo/semantics/openAccess 106f. : il. application/pdf [s.n.] Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Física Gleb Wataghin Programa de Pós-Graduação em Física reponame:Repositório Institucional da Unicamp instname:Universidade Estadual de Campinas instacron:UNICAMP
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