Caracterização de filmes finos de oxido de titanio obtidos atraves de RTP par aplicação em ISFETs

Caracterização de filmes finos de oxido de titanio obtidos atraves de RTP par aplicação em ISFETs

Orientador: Jose Alexandre Diniz === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e Computação === Made available in DSpace on 2018-08-12T04:29:31Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Barros_AngelicaDenardide_M.pdf: 3382435 bytes, checksum: 06e6858052deff3336...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Barros, Angélica Denardi de, 1982-
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 2008
Subjects:
Ôxido de titânio
Filmes finos
Detectores
Titanium oxide
RTP
Thin film
Ph sensor
ISFET
Online Access:BARROS, Angélica Denardi de. Caracterização de filmes finos de oxido de titanio obtidos atraves de RTP par aplicação em ISFETs. 2008. 114 p. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260115>. Acesso em: 12 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260115

Internet

BARROS, Angélica Denardi de. Caracterização de filmes finos de oxido de titanio obtidos atraves de RTP par aplicação em ISFETs. 2008. 114 p. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260115>. Acesso em: 12 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260115

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