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freitasjunior_ac_dr_araca.pdf: 626707 bytes, checksum: 01bcfeff181d77eb6eaa682b52483519 (MD5) === Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) === Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES) === Proposição. O objetivo do presente trabalho foi avaliar a influência do conceito de plataforma switching na confiabilidade e modo de falha de restaurações unitárias sobre implante com hexágono externo ou interno na região anterior da maxila. Adicionalmente, análises de elementos finitos foram realizadas para avaliar o padrão de distribuição de tensão dentro do complexo pilar-implante e no tecido ósseo peri-implantar. Materiais e Métodos. 84 implantes foram divididos em 4 grupos (n = 21) para realização dos testes de fadiga: SWT-EH e REG-EH (implantes de conexão externa com plataforma switching ou regular, respectivamente); SWT-IH e REG-IH (implantes de conexão interna com plataforma switching ou regular, respectivamente). Análises estatísticas de Weibull foram realizadas considerando as missões de 50.000 ciclos a 210N e 300N. Adicionalmente, foram construídos 4 modelos de elementos finitos considerando as mesmas variáveis para obtenção das tensões equivalentes de von Mises (σvM) no complexo pilar-implante e das máximas tensões principais (σmax) no osso peri-implantar. Resultados. Os valores de Beta para os grupos SWT-EH (1,31), REG-EH (1,55), SWT-IH (1,83) e REG-IH (1,82) indicaram que a fadiga acelerou a falha em todos os grupos. Os valores de confiabilidade calculados para os grupos SWT-EH, REG-EH, SWT-IH e REH-IH foram 0,53 (0,33 - 0,70), 0,93 (0,80 - 0,97), 0,99 (0,93 - 0,99) and 0,99 (0,99 -de tensão estiveram no pilar (SWT-IH = 186 MPa e REG-IH = 88.8 MPa). No osso cortical, os implantes com plataforma switching geraram menor tensão (σmax) tanto para conexão externa (SWT-EH = 49.0 MPa e REG-EH = 56.5 MPa) como para conexão interna (SWT-IH = 37.7 MPa e REG-IH = 45.5 MPa)... === Purpose. The aim of the present study was to evaluate the effect of platform switching concept on reliability and failure modes of anterior single-unit restorations for internal and external hex implants. Additionally, finite element analysis were performed to assess the stress distribution within implant-abutment complex and peri-implant bone. Materials and Methods. 84 implants were divided in 4 groups (n=21) for fatigue tests: REG-EH and SWT-EH (regular and switched-platform implants with external connection, respectively); REG-IH and SWT-IH (regular and switched-platform implants with internal connection, respectively). Weibull analysis for a mission of 50,000 cycles at 300N was performed. Additionally, 4 three-dimensional finite element models reproducing the characteristics of specimens used in mechanical tests were created to evaluate the equivalent von Mises stress (σvM) within implant-abutment complex and the maximum principal stress (σmax) in the peri-implant bone. Results. The Beta values for groups SWT-EH (1.31), REG-EH (1.55), SWT-IH (1.83) and REG-IH (1.82) indicated that fatigue accelerated the failure of all groups. The calculated reliability for groups SWT-EH, REG-EH, SWT-IH and REH-IH were 0.53(0.33-0.70), 0.93(0.80-0.97), 0.99(0.93-0.99) and 0.99(0.99-1.00), respectively. Failure modes (screw and/or abutment fracture) were similar for regular and switched-platform implants. Within implant-abutment complex, the higher peak of stress (σvM) was observed in fixation screw (SWT-EH = 190 MPa and REG-EH = 160 MPa) for groups with external hex implants; while for groups with internal hex implants was in abutment (SWT-IH = 186 MPa and REG-IH = 88.8 MPa). In the cortical bone... (Complete abstract click electronic access below)
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