Filmes de SiOx crescidos em substrato de zircônia tetragonal policristalina estabilizada por ítria: influência na durabilidade da adesão a cimentos resinosos

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Full description

Bibliographic Details
Main Author: Queiroz, José Renato Cavalcanti de [UNESP]
Other Authors: Universidade Estadual Paulista (UNESP)
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Universidade Estadual Paulista (UNESP) 2014
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/11449/105537