Emprego de imagens hiperspectrais e espectrometria de emissão em plasma introduzido por laser na análise direta de amostras de lixo eletrônico
Submitted by Alison Vanceto (alison-vanceto@hotmail.com) on 2016-09-28T14:02:16Z No. of bitstreams: 1 DissRRVC.pdf: 21311519 bytes, checksum: db7b93e3eba71a6955aa174283a5d883 (MD5) === Approved for entry into archive by Ronildo Prado (ronisp@ufscar.br) on 2016-09-30T14:09:45Z (GMT) No. of bitstrea...
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Universidade Federal de São Carlos
2016
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Química analítica Espectrometria de emissão óptica com plasma induzido por laser Quimiometria CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::QUIMICA::QUIMICA ANALITICA |
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Química analítica Espectrometria de emissão óptica com plasma induzido por laser Quimiometria CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::QUIMICA::QUIMICA ANALITICA Carvalho, Rodrigo Rodrigues Victor de Emprego de imagens hiperspectrais e espectrometria de emissão em plasma introduzido por laser na análise direta de amostras de lixo eletrônico |
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Submitted by Alison Vanceto (alison-vanceto@hotmail.com) on 2016-09-28T14:02:16Z
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Previous issue date: 2015-02-27 === Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) === Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) === In this study, laser induced breakdown spectroscopy was combined with chemometric
tools to study the chemical composition of WEEE discarded. For this, three
samples of printed circuit board were chosen for analysis: PCBs samples of mobile
phone, mouse and memory stick. The first sample with an area of 30 x 40 mm
was forwarded to the LIBS, laser pulses were made in 1200 points generating a
total of 12,000 spectra. Normalizing the data, initial exploratory analysis was conducted
in which 18 emission lines were separated corresponding to Al, Au, Ba,
Ca, Co, Cu, Fe, K, Li, Mg, Mn, Na, Ni, Sb, Si, Sn Ti and Zn. Semi quantitative
information were acquired with scanning electron microscopy with X-ray microanalysis.
In a second step, the data were normalized by the relative intensity and
self-scaled, where principal component analysis was performed. Scores maps
were generated with PC1 containing 19 and 16% of variance explained by the
pulses 1 and 10. In the mouse sample, a small area containing 5 x 15 mm was
analyzed, and investigated the presence of Pb, the five more intense emission lines
of Pb were separated. Data were normalized by the relative intensity and self
scaled, PCA was used and scores of maps were generated, with PC1 containing
88% of the explained variance. The Pb element was quantified by Flame Atomic
Absorption Spectrometry finding a con-centration of 25% (w/w). Small areas of
10 x 10 mm were analyzed in the memory stick using laser ablation inductively
coupled plasma mass spectrometer. Data were normalized, scores were generated
and maps the elements Cr and Pb were identified and quantified by Inductively
coupled plasma optical emission spectrometry, with concentrations of 7 and 70
mg/kg, respectively === A espectrometria de emissão em plasma induzido por laser foi combinada com
ferramentas quimiométricas para estudar a composição química de lixo eletrônico.
Três amostras de placas de circuito impresso foram escolhidas para análise:
amostras de PCIs de celular, mouse e pente de memória. A primeira amostra com
uma área de 30 mm x 40 mm foi analisada por LIBS. Pulsos de lasers foram efetuados
em 1200 pontos gerando um total de 12000 espectros. Normalizando-se os
dados, foi realizada uma análise exploratória quando 18 linhas de emissão foram
separadas: Al, Au, Ba, Ca, Co, Cu, Fe K, Li, Mg, Mn, Na, Ni, Sb, Si, Sn, Ti e Zn.
Informações semiquantitativas foram adquiridas com microscópio eletrônico de
varredura com energia dispersiva de raios x. Em uma segunda etapa, os dados
foram normalizados pela intensidade relativa e auto-escalados, e uma nova PCA
foi executada. Mapas de escores foram gerados com PC1 contendo 19 e 16% de
variância explicada para os pulsos 1 e 10, respectivamente. Na amostra de mouse,
uma pequena área de 5 mm x 15 mm foi analisada, sendo investigada a presença
do elemento Pb e as cinco linhas de emissão mais intensas foram separadas. Os
dados foram normalizados pela intensidade relativa e auto escalados, PCA foi
empregada e mapas de escores foram gerados, com PC1 contendo 88% de variância
explicada. O elemento Pb foi quantificado por espectrometria de absorção
atômica em chama, encontrando-se uma concentração de 25% (m/m). Pequenas
áreas de 10 mm x 10 mm foram analisadas no pente de memória utilizando espectrometria
de massas com plasma indutivamente acoplado com ablação por laser,
os dados foram normalizados e mapas de escores foram gerados, sendo que os
elementos Cr e Pb foram identificados e quantificados por espectrometria de emissão
ótica com plasma indutivamente acoplado, apresentando teores de 7 e 70 ppm,
respectivamente. === FAPESP: 2012/01769-3 |
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Pereira Filho, Edenir Rodrigues |
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Pereira Filho, Edenir Rodrigues Carvalho, Rodrigo Rodrigues Victor de |
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ndltd-IBICT-oai-repositorio.ufscar.br-ufscar-75842018-05-23T20:11:39Z Emprego de imagens hiperspectrais e espectrometria de emissão em plasma introduzido por laser na análise direta de amostras de lixo eletrônico Employment of hyperespectral imaging and laser induced breakdown spectroscopy in direct analysis of waste electrical and electronic equipment Carvalho, Rodrigo Rodrigues Victor de Pereira Filho, Edenir Rodrigues Química analítica Espectrometria de emissão óptica com plasma induzido por laser Quimiometria CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::QUIMICA::QUIMICA ANALITICA Submitted by Alison Vanceto (alison-vanceto@hotmail.com) on 2016-09-28T14:02:16Z No. of bitstreams: 1 DissRRVC.pdf: 21311519 bytes, checksum: db7b93e3eba71a6955aa174283a5d883 (MD5) Approved for entry into archive by Ronildo Prado (ronisp@ufscar.br) on 2016-09-30T14:09:45Z (GMT) No. of bitstreams: 1 DissRRVC.pdf: 21311519 bytes, checksum: db7b93e3eba71a6955aa174283a5d883 (MD5) Approved for entry into archive by Ronildo Prado (ronisp@ufscar.br) on 2016-09-30T14:09:56Z (GMT) No. of bitstreams: 1 DissRRVC.pdf: 21311519 bytes, checksum: db7b93e3eba71a6955aa174283a5d883 (MD5) Made available in DSpace on 2016-09-30T14:22:05Z (GMT). No. of bitstreams: 1 DissRRVC.pdf: 21311519 bytes, checksum: db7b93e3eba71a6955aa174283a5d883 (MD5) Previous issue date: 2015-02-27 Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) In this study, laser induced breakdown spectroscopy was combined with chemometric tools to study the chemical composition of WEEE discarded. For this, three samples of printed circuit board were chosen for analysis: PCBs samples of mobile phone, mouse and memory stick. The first sample with an area of 30 x 40 mm was forwarded to the LIBS, laser pulses were made in 1200 points generating a total of 12,000 spectra. Normalizing the data, initial exploratory analysis was conducted in which 18 emission lines were separated corresponding to Al, Au, Ba, Ca, Co, Cu, Fe, K, Li, Mg, Mn, Na, Ni, Sb, Si, Sn Ti and Zn. Semi quantitative information were acquired with scanning electron microscopy with X-ray microanalysis. In a second step, the data were normalized by the relative intensity and self-scaled, where principal component analysis was performed. Scores maps were generated with PC1 containing 19 and 16% of variance explained by the pulses 1 and 10. In the mouse sample, a small area containing 5 x 15 mm was analyzed, and investigated the presence of Pb, the five more intense emission lines of Pb were separated. Data were normalized by the relative intensity and self scaled, PCA was used and scores of maps were generated, with PC1 containing 88% of the explained variance. The Pb element was quantified by Flame Atomic Absorption Spectrometry finding a con-centration of 25% (w/w). Small areas of 10 x 10 mm were analyzed in the memory stick using laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometer. Data were normalized, scores were generated and maps the elements Cr and Pb were identified and quantified by Inductively coupled plasma optical emission spectrometry, with concentrations of 7 and 70 mg/kg, respectively A espectrometria de emissão em plasma induzido por laser foi combinada com ferramentas quimiométricas para estudar a composição química de lixo eletrônico. Três amostras de placas de circuito impresso foram escolhidas para análise: amostras de PCIs de celular, mouse e pente de memória. A primeira amostra com uma área de 30 mm x 40 mm foi analisada por LIBS. Pulsos de lasers foram efetuados em 1200 pontos gerando um total de 12000 espectros. Normalizando-se os dados, foi realizada uma análise exploratória quando 18 linhas de emissão foram separadas: Al, Au, Ba, Ca, Co, Cu, Fe K, Li, Mg, Mn, Na, Ni, Sb, Si, Sn, Ti e Zn. Informações semiquantitativas foram adquiridas com microscópio eletrônico de varredura com energia dispersiva de raios x. Em uma segunda etapa, os dados foram normalizados pela intensidade relativa e auto-escalados, e uma nova PCA foi executada. Mapas de escores foram gerados com PC1 contendo 19 e 16% de variância explicada para os pulsos 1 e 10, respectivamente. Na amostra de mouse, uma pequena área de 5 mm x 15 mm foi analisada, sendo investigada a presença do elemento Pb e as cinco linhas de emissão mais intensas foram separadas. Os dados foram normalizados pela intensidade relativa e auto escalados, PCA foi empregada e mapas de escores foram gerados, com PC1 contendo 88% de variância explicada. O elemento Pb foi quantificado por espectrometria de absorção atômica em chama, encontrando-se uma concentração de 25% (m/m). Pequenas áreas de 10 mm x 10 mm foram analisadas no pente de memória utilizando espectrometria de massas com plasma indutivamente acoplado com ablação por laser, os dados foram normalizados e mapas de escores foram gerados, sendo que os elementos Cr e Pb foram identificados e quantificados por espectrometria de emissão ótica com plasma indutivamente acoplado, apresentando teores de 7 e 70 ppm, respectivamente. FAPESP: 2012/01769-3 2016-09-30T14:22:05Z 2016-09-30T14:22:05Z 2015-02-27 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/7584 por info:eu-repo/semantics/openAccess Universidade Federal de São Carlos Câmpus São Carlos Programa de Pós-graduação em Química UFSCar reponame:Repositório Institucional da UFSCAR instname:Universidade Federal de São Carlos instacron:UFSCAR |