| Summary: | Submitted by Alison Vanceto (alison-vanceto@hotmail.com) on 2016-09-28T14:02:16Z
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Previous issue date: 2015-02-27 === Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) === Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) === In this study, laser induced breakdown spectroscopy was combined with chemometric
tools to study the chemical composition of WEEE discarded. For this, three
samples of printed circuit board were chosen for analysis: PCBs samples of mobile
phone, mouse and memory stick. The first sample with an area of 30 x 40 mm
was forwarded to the LIBS, laser pulses were made in 1200 points generating a
total of 12,000 spectra. Normalizing the data, initial exploratory analysis was conducted
in which 18 emission lines were separated corresponding to Al, Au, Ba,
Ca, Co, Cu, Fe, K, Li, Mg, Mn, Na, Ni, Sb, Si, Sn Ti and Zn. Semi quantitative
information were acquired with scanning electron microscopy with X-ray microanalysis.
In a second step, the data were normalized by the relative intensity and
self-scaled, where principal component analysis was performed. Scores maps
were generated with PC1 containing 19 and 16% of variance explained by the
pulses 1 and 10. In the mouse sample, a small area containing 5 x 15 mm was
analyzed, and investigated the presence of Pb, the five more intense emission lines
of Pb were separated. Data were normalized by the relative intensity and self
scaled, PCA was used and scores of maps were generated, with PC1 containing
88% of the explained variance. The Pb element was quantified by Flame Atomic
Absorption Spectrometry finding a con-centration of 25% (w/w). Small areas of
10 x 10 mm were analyzed in the memory stick using laser ablation inductively
coupled plasma mass spectrometer. Data were normalized, scores were generated
and maps the elements Cr and Pb were identified and quantified by Inductively
coupled plasma optical emission spectrometry, with concentrations of 7 and 70
mg/kg, respectively === A espectrometria de emissão em plasma induzido por laser foi combinada com
ferramentas quimiométricas para estudar a composição química de lixo eletrônico.
Três amostras de placas de circuito impresso foram escolhidas para análise:
amostras de PCIs de celular, mouse e pente de memória. A primeira amostra com
uma área de 30 mm x 40 mm foi analisada por LIBS. Pulsos de lasers foram efetuados
em 1200 pontos gerando um total de 12000 espectros. Normalizando-se os
dados, foi realizada uma análise exploratória quando 18 linhas de emissão foram
separadas: Al, Au, Ba, Ca, Co, Cu, Fe K, Li, Mg, Mn, Na, Ni, Sb, Si, Sn, Ti e Zn.
Informações semiquantitativas foram adquiridas com microscópio eletrônico de
varredura com energia dispersiva de raios x. Em uma segunda etapa, os dados
foram normalizados pela intensidade relativa e auto-escalados, e uma nova PCA
foi executada. Mapas de escores foram gerados com PC1 contendo 19 e 16% de
variância explicada para os pulsos 1 e 10, respectivamente. Na amostra de mouse,
uma pequena área de 5 mm x 15 mm foi analisada, sendo investigada a presença
do elemento Pb e as cinco linhas de emissão mais intensas foram separadas. Os
dados foram normalizados pela intensidade relativa e auto escalados, PCA foi
empregada e mapas de escores foram gerados, com PC1 contendo 88% de variância
explicada. O elemento Pb foi quantificado por espectrometria de absorção
atômica em chama, encontrando-se uma concentração de 25% (m/m). Pequenas
áreas de 10 mm x 10 mm foram analisadas no pente de memória utilizando espectrometria
de massas com plasma indutivamente acoplado com ablação por laser,
os dados foram normalizados e mapas de escores foram gerados, sendo que os
elementos Cr e Pb foram identificados e quantificados por espectrometria de emissão
ótica com plasma indutivamente acoplado, apresentando teores de 7 e 70 ppm,
respectivamente. === FAPESP: 2012/01769-3
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