Recomendações para a implementação de ensaios de estresse térmico voltados à confiabilidade de hardwares eletrônicos

Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. === Made available in DSpace on 2012-10-21T18:36:00Z (GMT). No. of bitstreams: 1 212593.pdf: 2706208 bytes, checksum: 696799a33d4746badbe150135f9d408d...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Luca, Luciana Veloso de
Other Authors: Universidade Federal de Santa Catarina
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Florianópolis, SC 2012
Subjects:
Online Access:http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/87341
Description
Summary:Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. === Made available in DSpace on 2012-10-21T18:36:00Z (GMT). No. of bitstreams: 1 212593.pdf: 2706208 bytes, checksum: 696799a33d4746badbe150135f9d408d (MD5) === A crescente competição mercadológica mundial e o atual cenário da indústria eletrônica no qual os produtos tornam-se cada vez mais complexos e os índices de qualidade e confiabilidade cada vez mais apertados, apontam para uma situação na qual a necessidade da utilização de técnicas que auxiliem na construção da confiabilidade de um produto desde as primeiras fases do seu