| Summary: | Tese (doutorado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro de Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Engenharia Mecânica === Made available in DSpace on 2012-10-18T03:15:04Z (GMT). No. of bitstreams: 0Bitstream added on 2014-09-25T20:48:45Z : No. of bitstreams: 1
182016.pdf: 6490620 bytes, checksum: c5f2670f5d5ffc332c6a15a81c4e9902 (MD5) === Garantir confiabilidade metrológica é uma necessidade nos sistemas da qualidade; avaliar incertezas de medições é imprescindível no processo de garantia da confiabilidade metrológica. A metodologia de avaliação de incertezas proposta pela ISO - International Organization for Standardization é a do "Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement". Sua aplicação exige perfeita caracterização do processo metrológico e é bastante trabalhosa, mesmo que sejam poucos os instrumentos de medição envolvidos. Cada vez mais, os instrumentos são eletrônicos e modulares. Nas medições feitas com cadeias modulares, a caracterização dos processos requer conhecimentos simultâneos de metrologia e de instrumentação eletrônica. Nesses casos, a falta de pessoal especializado tem sido o maior fator limitante à obtenção da garantia da confiabilidade metrológica. A atividade experimental pode contribuir de forma muito significativa, tanto para se conhecer o comportamento metrológico de processos de medição quanto para formação de recursos humanos. Porém a experimentação, além de ter alto custo, esbarra na impossibilidade prática de variação controlada de muitos dos parâmetros envolvidos. Identifica-se aí um cenário apropriado para aplicação de simuladores. Neste trabalho está estruturado um sistema de simulação digital de instrumentos, congregando o estado-da-arte em metrologia, instrumentação, qualidade industrial e informática. O sistema consiste de ambientes, modelos e procedimentos de simulação direcionados à análise do comportamento metrológico de cadeias modulares de medição formadas por instrumentos elétricos. São propostas alternativas inéditas, empregadas no desenvolvimento em Labview de ambientes de simulação e de modelos de características metrológicas estáticas e dinâmicas.
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