Instrumentação de FPGAs SRAM para recuperação e prevenção de faltas permanentes visando utilização em aplicações espaciais

• Main Author: Martins, Victor Manuel Gonçalves
• Other Authors: Universidade Federal de Santa Catarina
• Format: Others
• Language: Portuguese
• Published: 2016
• Subjects: Engenharia elétrica; Tolerância a falha (Engenharia); Sistemas eletrônicos
• Online Access: https://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/168048

Tese (doutorado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica, Florianópolis, 2016. === Made available in DSpace on 2016-09-20T04:48:14Z (GMT). No. of bitstreams: 1 342001.pdf: 9058678 bytes, checksum: e7b5820af980d1932869b7216f587137 (MD5) Previous issue date: 2016 === Os dispositivos reprogramáveis Field Programmable Gate Arrays (FPGAs),embora construídos para serem robustos, não são eternos, nem completamenteimunes à ocorrência de faltas, sejam elas transitórias oupermanentes. Considerando que o teste após fabricação deteta todas asfaltas devidas ao processo de produção, em condições normais ao níveldo mar, mesmo com as tecnologias nanométricas recentes, a ocorrênciade faltas permanentes numa FPGA durante o seu previsível ciclo devida é praticamente nula. Já em condições hostis, como no espaço ondeo nível de radiação é elevado (ou mesmo ambientes terrestres comocentrais nucleares, centros de investigação de física nuclear, aceleradoresde partículas, etc.), a ocorrência de faltas permanentes numa FPGAnão pode ser desprezada. Para além da radiação, sendo um dispositivoeletrónico, está igualmente sujeito a envelhecimento (aging). O NegativeBias Temperature Instability (NBTI) e o Positive Bias Temperature Instability(PBTI) são dois dos fatores que provocam esse envelhecimento,e que embora não destruam a funcionalidade dos recursos da FPGA,aumentam os seus tempos de propagação. Este envelhecimento podepor isso também originar faltas permanentes a partir de um determinadoponto do ciclo de vida do sistema implementado numa FPGA. Asolução para esses casos é a substituição da FPGA ou até mesmo daplaca que inclui a mesma. Apesar do facto de que em muitas situaçõesa substituição da FPGA ser considerada uma tarefa simples, em tantasoutras, tais como ambientes aeroespaciais onde o acesso é difícil e/ouperigoso para quem tem de realizar a substituição, esta operação poderáser problemática ou impossível de realizar.Neste contexto, esta tese propõe o desenvolvimento de soluções, para queum sistema implementado numa FPGA possa autonomamente recuperarda ocorrência de faltas permanentes (evitando utilizar recursos dodispositivo que sofreram essas mesmas faltas), e ao mesmo tempo,atenuar o ritmo de envelhecimento do dispositivo devido ao NBTI (eeventualmente também ao PBTI). Para isso, este trabalho foca emdois objetivos principais: (1) O desenvolvimento de um mecanismo emhardware, baseado na Reconfiguração Parcial da FPGA, que suportea implementação de estratégias de recuperação e prevenção de faltaspermanentes (minimizando a evolução do envelhecimento causado peloNBTI). (2) Planear e implementar formas de recuperar ou prevenir daocorrência de faltas permanentes (delay faults), recorrendo ao mecanismodesenvolvido.O mecanismo apresentado passa por novo fluxo gerador de bitstreamsparciais, possíveis de realocar em múltiplas partições reconfiguráveis,uma flexibilidade que ultrapassa a proporcionada pelas ferramentas dereconfiguração dinâmica disponibilizadas pelo fabricante. Das estratégiasimplementadas, uma permite um sistema implementado numa FPGArecuperar de uma falta permanente, sem necessidade de excluir todaa partição. Para atenuação do envelhecimento do dispositivo, outraestratégia altera as partições onde os bitstreams se encontram alocados deuma forma cíclica, de forma a que o máximo de recursos dessas partiçõesnão estejam configurados da mesma forma um longo período de tempo.É proposto ainda um novo sensor de performance para FPGA e quepode permitir medir também o envelhecimento em cada partição. Comele é possível a estratégia de alocar módulos (existentes nos bitstreamsgerados), de modo a uniformizar o envelhecimento e a dissipação depotência pelas várias partições, em função do envelhecimento acumulado,da temperatura atual e da potência consumida por cada módulo.<br> === Abstract : FPGA devices although built to be robust, are not everlasting. Theyare not completely invulnerable to the occurrence of faults, whethertemporary or permanent. Whereas the test after manufacturing detectsall faults due to production process, in normal conditions, at sea level,even with the recent nanometric technologies, the manifestation ofpermanent faults in FPGAs during their expected life cycle is consideredto be near zero. However, in hostile conditions, such as in space whereradiation levels are higher (or terrestrial environments such as nuclearpower plants, nuclear physics research centers, particle accelerators, etc.),the rate of permanent faults in an FPGA device can not be neglected.In addition to the radiation, as the FPGA is an electronic device, it isalso susceptible to aging effects. NBTI and PBTI are two of the agingsources and, although they do not damage directly the functionality ofthe FPGA resources, they are responsible for the increase in the device?spropagation times. This aging can therefore also lead to permanentfaults in a certain moment in the life cycle of a system implementedon an FPGA. The solution for such cases is to replace the FPGA oreven the board where it is on. Despite the fact that in many casesreplacing the FPGA can be considered a simple task, in many others,such as in aerospace environments where the access is difficult and /or dangerous for those who have to do the replacement, this operationmay be challenging or even impossible to perform.In this context, this work proposes the development of solutions fora system implemented in an FPGA which can autonomously recoverfrom the manifestation of permanent faults (avoiding use device resourcesthat have suffered these same faults), and at the same timemitigating the rate of aging of the device due to NBTI (and possiblyalso the PBTI). Therefore, this work focuses on two main objectives:(1) The development of a mechanism in hardware, based on the FPGAPartial Reconfiguration mechanism, which supports the implementationof strategies for recovering and prevention of permanent faults(minimizing the evolution of aging caused by NBTI). (2) The planningand implementation of ways to recover or to prevent the occurrence ofpermanent faults (delay faults), using the developed mechanism.The presented mechanism includes a new flow to generate partial bitstreams,which allows to reallocate multiple reconfigurable partitions.This is a feature does not provided by the dynamic reconfiguration toolsdelivered by the manufacturers. The implemented strategies allow asystem implemented in an FPGA to recover from a permanent fault,with no need to exclude the entire partition. For the device aging mitigation,another strategy changes the partitions where the bitstreamsare allocated in a cyclical way, so that the maximum resources of thesepartitions are not configured in the same way for a long period of time.It is further proposed a new performance sensor for FPGA systems,which also may allow the measuting of aging in each partition. Withthis sensor the strategy allows the allocation of modules (existing inthe generated bitstreams) in order to standardize the aging and powerdissipation by the various partitions, as a function of cumulative aging,the current temperature and the power consumed by each module.