Investigação de parâmetros hiperfinos dos óxidos semicondutores SnOsub(2) e TiOsub(2) puros e dopados com metais de transição 3d pela espectroscopia de correlação angular gama-gama perturbada

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Full description

Bibliographic Details
Main Author: SCHELL, JULIANA
Other Authors: Artur Wilson Carbonari
Format: Others
Published: 2015
Subjects:
semiconductor materials
perturbed angular correlation
spectroscopy
hyperfine structure
thin films
sample preparation
powders
tin oxides
titanium oxides
doped materials
transition elements
defects
magnetism
x-ray diffraction
scanning electron microscopy
x-ray spectroscopy
magnetization
heat treatments
Online Access:http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/23699

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