Investigação do óxido semicondutor CeO2 dopado com Fe e La pela espectroscopia de correlação angular gama-gama perturbada

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Bibliographic Details
Main Author: SALUTTE, CAIO de O.
Other Authors: Artur Wilson Carbonari
Format: Others
Published: 2014
Subjects:
cerium oxides
semiconductor materials
doped materials
iron
lanthanum
hyperfine structure
perturbed angular correlation
spectroscopy
sol-gel process
sintering
x-ray diffraction
scanning electron microscopy
Online Access:http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/10556

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