Radiation robustness of XOR and majority voter circuits at finFET technology under variability

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Full description

Bibliographic Details
Main Author: Aguiar, Ygor Quadros de
Other Authors: Reis, Ricardo Augusto da Luz
Format: Others
Language:English
Published: 2017
Subjects:
Microeletrônica
Circuitos digitais
Microelectronics
FinFET
Variability
Radiation Effects
Fault Tolerance
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/169107
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