Modelamento e análise do efeito de coeficiente nulo de temperatura (ZTC) do Mosfet para aplicações análogicas de baixa sensibilidade têrmica
A contínua miniaturização das tecnologias CMOS oferece maior capacidade de integração e, consequentemente, as variações de temperatura dentro de uma pastilha de silício têm se apresentado cada vez mais agressivas. Ademais, dependendo da aplicação, a temperatura ambiente a qual o CHIP está inserido p...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | English |
| Published: |
2016
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/140814 |