Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
Este trabalho apresenta estudos voltados ao teste de Amplificadores Diferenciais. No primeiro momento, por meio de simulações SPICE, falhas catastróficas são injetadas em dois Amplificadores Diferenciais, projetados para uma tecnologia CMOS de 0,5m com configurações complementares, a fim de comprov...
Main Author: | Bender, Isis Duarte |
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Other Authors: | Balen, Tiago Roberto |
Format: | Others |
Language: | Portuguese |
Published: |
2015
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Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/131040 |
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