Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular

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Bibliographic Details
Main Author: Silva, Saimon Filipe Covre da
Other Authors: Munford, Maximiliano Luis
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Universidade Federal de Viçosa 2015
Subjects:
Caracterização ótica
Epitaxia
MBE
Elipsometria
CdMnTe
Optical characterization
Epitaxy
Ellipsometry
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
Online Access:http://locus.ufv.br/handle/123456789/4259

Internet

http://locus.ufv.br/handle/123456789/4259

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