Eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados

=== We propose the usage of information obtained from conguration management tools stored data to track integrated circuit design evolution. The tracking is performed by the tool EyesOn. It is an open source framework designed to be extensible and to have easy integration with conguration managemen...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Thiago Sousa Figueiredo Silva
Other Authors: Antonio Otavio Fernandes
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Universidade Federal de Minas Gerais 2011
Online Access:http://hdl.handle.net/1843/SLSS-8GQNTX
id ndltd-IBICT-oai-bibliotecadigital.ufmg.br-MTD2BR-SLSS-8GQNTX
record_format oai_dc
spelling ndltd-IBICT-oai-bibliotecadigital.ufmg.br-MTD2BR-SLSS-8GQNTX2019-01-21T17:57:46Z Eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados Thiago Sousa Figueiredo Silva Antonio Otavio Fernandes José Augusto Miranda Nacif Luiz Filipe Menezes Vieira Omar Paranaiba Vilela Neto José Augusto Miranda Nacif We propose the usage of information obtained from conguration management tools stored data to track integrated circuit design evolution. The tracking is performed by the tool EyesOn. It is an open source framework designed to be extensible and to have easy integration with conguration management tools. The framework kernel architectureis composed by classes that represent handled entities and also store metrics and history information. We also present a set of product and process metrics gathered from design implementation, test and synthesis. In order to contextualize the problem a case study is presented. We prepared a development environment where university students developed a processor for academical purposes and sent development data to conguration management tools. After data extraction, some charts and an error proneness indication mechanism, based on temporal locality, are presented. Development history information has been already used to improve software productsand their development processes. We propose that in same direction this kind of information can be also applied to hardware. The information gathered from each design process step can be used to reduce bugs before fabrication and also to improve design process quality. Este trabalho propõe o uso de dados armazenados em ferramentas de gerência de conguração para rastrear a evolução dos circuitos integrados. Esse rastreamento é feito pela ferramenta EyesOn. Esta ferramenta é um arcabouço de código aberto e projetada para ser extensível, permitindo a adição de novas métricas e integraçãocom outras ferramentas de gerência de conguração. A arquitetura da ferramenta é composta por um núcleo básico de classes que representam as informações manipuladas e que é capaz de armazenar diferentes tipos de métricas e sistemas de controle de versão.Também são apresentados um conjunto de métricas de produto e de processo das etapas de implementação, testes e síntese.Uma contextualização do problema é apresentada por meio de um estudo de caso. Para que fosse possível reconstruir um ambiente de desenvolvimento foi proposta uma infraestrutura na qual os desenvolvedores fornecem dados do desenvolvimento de u0m processador elaborado para o propósito acadêmico. Após a coleta dos dados são apresentados grácos e um mecanismo para indicar propensão a erros, explorando o conceito de localidade temporal.As informações obtidas no histórico de desenvolvimento já provaram ser úteis para a melhoria dos processos e dos produtos de software. Da mesma forma, essas informações podem também ser aplicadas em projetos de hardware. Por meio das informações que são extraídas a cada etapa de um processo de desenvolvimento de circuito integrado, e a cada revisão, esses dados podem contribuir para redução deerros e também para melhoria da qualidade desses processos. 2011-03-25 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis http://hdl.handle.net/1843/SLSS-8GQNTX por info:eu-repo/semantics/openAccess text/html Universidade Federal de Minas Gerais 32001010004P6 - CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO UFMG BR reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFMG instname:Universidade Federal de Minas Gerais instacron:UFMG
collection NDLTD
language Portuguese
format Others
sources NDLTD
description === We propose the usage of information obtained from conguration management tools stored data to track integrated circuit design evolution. The tracking is performed by the tool EyesOn. It is an open source framework designed to be extensible and to have easy integration with conguration management tools. The framework kernel architectureis composed by classes that represent handled entities and also store metrics and history information. We also present a set of product and process metrics gathered from design implementation, test and synthesis. In order to contextualize the problem a case study is presented. We prepared a development environment where university students developed a processor for academical purposes and sent development data to conguration management tools. After data extraction, some charts and an error proneness indication mechanism, based on temporal locality, are presented. Development history information has been already used to improve software productsand their development processes. We propose that in same direction this kind of information can be also applied to hardware. The information gathered from each design process step can be used to reduce bugs before fabrication and also to improve design process quality. === Este trabalho propõe o uso de dados armazenados em ferramentas de gerência de conguração para rastrear a evolução dos circuitos integrados. Esse rastreamento é feito pela ferramenta EyesOn. Esta ferramenta é um arcabouço de código aberto e projetada para ser extensível, permitindo a adição de novas métricas e integraçãocom outras ferramentas de gerência de conguração. A arquitetura da ferramenta é composta por um núcleo básico de classes que representam as informações manipuladas e que é capaz de armazenar diferentes tipos de métricas e sistemas de controle de versão.Também são apresentados um conjunto de métricas de produto e de processo das etapas de implementação, testes e síntese.Uma contextualização do problema é apresentada por meio de um estudo de caso. Para que fosse possível reconstruir um ambiente de desenvolvimento foi proposta uma infraestrutura na qual os desenvolvedores fornecem dados do desenvolvimento de u0m processador elaborado para o propósito acadêmico. Após a coleta dos dados são apresentados grácos e um mecanismo para indicar propensão a erros, explorando o conceito de localidade temporal.As informações obtidas no histórico de desenvolvimento já provaram ser úteis para a melhoria dos processos e dos produtos de software. Da mesma forma, essas informações podem também ser aplicadas em projetos de hardware. Por meio das informações que são extraídas a cada etapa de um processo de desenvolvimento de circuito integrado, e a cada revisão, esses dados podem contribuir para redução deerros e também para melhoria da qualidade desses processos.
author2 Antonio Otavio Fernandes
author_facet Antonio Otavio Fernandes
Thiago Sousa Figueiredo Silva
author Thiago Sousa Figueiredo Silva
spellingShingle Thiago Sousa Figueiredo Silva
Eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados
author_sort Thiago Sousa Figueiredo Silva
title Eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados
title_short Eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados
title_full Eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados
title_fullStr Eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados
title_full_unstemmed Eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados
title_sort eyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integrados
publisher Universidade Federal de Minas Gerais
publishDate 2011
url http://hdl.handle.net/1843/SLSS-8GQNTX
work_keys_str_mv AT thiagosousafigueiredosilva eyesonumarcaboucoparaextracaoarmazenamentoeacompanhamentodemetricasdeprojetodecircuitosintegrados
_version_ 1718844937788719104