Análise da influência da radiação em circuitos eletrônicos.

• Main Author: Tamara Menezes Arruda
• Other Authors: Osamu Saotome
• Format: Others
• Language: Portuguese
• Published: Instituto Tecnológico de Aeronáutica 2006
• Subjects: Radiação ionizante; Eletrônica digital; Memória de acesso aleatório; Análise de falhas; Circuitos; Sistemas de computadores embarcados; Transmissão por satétites; Componentes de computadores; Engenharia eletrônica
• Online Access: http://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=290

Os computadores de bordo de satélites devem ser projetados para utilização em ambiente espacial. Entre as características deste ambiente destaca-se a presença de diferentes tipos de radiação que podem alterar a operação dos componentes do computador de bordo, causando desde falhas temporárias até na perda total do satélite. Neste contexto, este trabalho apresenta uma análise do comportamento de memórias SRAM quando submetidas a radiação ionizante. Com esta finalidade foi desenvolvida uma plataforma composta por um sistema microprocessado que monitora em tempo real a ocorrência de falhas em memórias. Foram realizados diversos testes nos quais memórias SRAM foram submetidas a diferentes doses de radiação ionizante. As falhas detectadas incluem desde a mudança temporária de bits até a interrupção permanente do funcionamento da memória. Tais testes serviram para investigação do comportamento das memórias SRAM quanto à tolerância a ambientes espaciais com diferentes características.