METALLIC NANOSTRUCTURE FABRICATION BY AFM LITHOGRAPHY
COORDENAÇÃO DE APERFEIÇOAMENTO DO PESSOAL DE ENSINO SUPERIOR === Nesta dissertação de mestrado, nós desenvolvemos um processo de litografia baseado na técnica de microscopia de força atômica. O estudo do processo de litografia aqui utilizado inicia-se com a deposição e caracterização de filmes fi...
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PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
2004
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ndltd-IBICT-oai-MAXWELL.puc-rio.br-60612019-03-01T15:34:44Z METALLIC NANOSTRUCTURE FABRICATION BY AFM LITHOGRAPHY FABRICAÇÃO DE NANOESTRUTURAS CONDUTORAS POR AFM HENRIQUE DUARTE DA FONSECA FILHO RODRIGO PRIOLI MENEZES MARCOS HENRIQUE DE PINHO MAURICIO RODRIGO PRIOLI MENEZES MARCOS HENRIQUE DE PINHO MAURICIO ANIBAL OMAR CARIDE BERNARDO RUEGGER ALMEIDA NEVES COORDENAÇÃO DE APERFEIÇOAMENTO DO PESSOAL DE ENSINO SUPERIOR Nesta dissertação de mestrado, nós desenvolvemos um processo de litografia baseado na técnica de microscopia de força atômica. O estudo do processo de litografia aqui utilizado inicia-se com a deposição e caracterização de filmes finos de sulfeto de arsênio amorfo (a-As2S3) em substratos de silício e a deposição de uma camada metálica de alumínio, utilizada como máscara, sobre a superfície do a-As2S3. O microscópio de força atômica é utilizado para escrever os padrões de forma controlada na camada metálica, e para tal, a influencia dos parâmetros de controle do microscópio na realização da litografia foi analisada. Para a transferência do padrão litografado realiza-se um posterior processo de fotossensibilização e dissolução química do a-As2S3 com uma solução de K2CO3. Após a dissolução, uma camada de ouro foi depositada por erosão catódica DC, seguido de uma nova dissolução, desta vez com NaOH resultando na transferência de nanoestruturas de Au para o substrato de silício. In this dissertation, we have developed a lithography process based on the atomic force microscopy of technique. The study of the lithography process starts with the deposition and characterization of amorphous arsenic sulfide thin films (a-As2S3) in silicon substrates and the deposition of a metallic aluminum layer, used as mask, on the surface of the a-As2S3. An atomic force microscope was used to write patterns in a controlled way on the metallic layer. Therefore, the influence of microscope feedback system on the accomplishment of the lithography was analyzed. In order to transfer the lithographed pattern to a silicon substrate, the a- As2S3 was exposed to a UV light source and was dissolved with a K2CO3 solution. Then, a thin gold layer was deposited by sputtering DC, and a new dissolution, now with NaOH was performed, leading to the deposition of Au nanostructures onto the silicon substrate. 2004-08-26 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis http://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=6061@1 http://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=6061@2 por info:eu-repo/semantics/openAccess PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO PPG EM FÍSICA PUC-Rio BR reponame:Repositório Institucional da PUC_RIO instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro instacron:PUC_RIO |
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COORDENAÇÃO DE APERFEIÇOAMENTO DO PESSOAL DE ENSINO SUPERIOR === Nesta dissertação de mestrado, nós desenvolvemos um
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litografia baseado na técnica de microscopia de força
atômica. O estudo do
processo de litografia aqui utilizado inicia-se com a
deposição e caracterização de
filmes finos de sulfeto de arsênio amorfo (a-As2S3) em
substratos de silício e a
deposição de uma camada metálica de alumínio, utilizada
como máscara, sobre a
superfície do a-As2S3. O microscópio de força atômica é
utilizado para escrever os
padrões de forma controlada na camada metálica, e para
tal, a influencia dos
parâmetros de controle do microscópio na realização da
litografia foi analisada.
Para a transferência do padrão litografado realiza-se um
posterior processo de
fotossensibilização e dissolução química do a-As2S3 com
uma solução de K2CO3.
Após a dissolução, uma camada de ouro foi depositada por
erosão catódica DC,
seguido de uma nova dissolução, desta vez com NaOH
resultando na transferência
de nanoestruturas de Au para o substrato de silício. === In this dissertation, we have developed a lithography
process based on the
atomic force microscopy of technique. The study of the
lithography process starts
with the deposition and characterization of amorphous
arsenic sulfide thin films
(a-As2S3) in silicon substrates and the deposition of a
metallic aluminum layer,
used as mask, on the surface of the a-As2S3. An atomic
force microscope was used
to write patterns in a controlled way on the metallic
layer. Therefore, the influence
of microscope feedback system on the accomplishment of the
lithography was
analyzed. In order to transfer the lithographed pattern to
a silicon substrate, the a-
As2S3 was exposed to a UV light source and was dissolved
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