SPECTRAL CHARACTERIZATION OF GAIN IN DOPED FIBERS USING OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETRY

• Main Author: MARCIA BETANIA COSTA E SILVA
• Other Authors: JEAN PIERRE VON DER WEID
• Language: Portuguese
• Published: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO 2004
• Online Access: http://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=4671@1; http://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=4671@2

CONSELHO NACIONAL DE DESENVOLVIMENTO CIENTÍFICO E TECNOLÓGICO === ERICSSON DO BRASIL === O uso de amplificadores a fibra dopada, principalmente o amplificador a fibra dopada com érbio (EDFA), permitiram um grande avanço no desenvolvimento das comunicações ópticas e, o uso de ferramentas para caracterizar estes dispositivos é de grande importância. A técnica de reflectometria óptica no domínio da freqüência (OFDR), é bastante eficiente por se tratar de uma técnica não destrutiva e possibilitar a caracterização do ganho através de medidas de ganho distribuído em fibras dopadas. Neste trabalho foi construído um sistema OFDR sintonizável permitindo medidas em diferentes comprimentos de onda, para caracterização de EDFA, operando na banda C (1530-1565 nm) e L (1565-1610 nm), e também fibras dopadas com túlio, operando na banda S (1450-1530 nm). Graças a estas medidas, foram feitos estudos de diversos esquemas de bombeamento e diferentes topologias visando um melhor entendimento e desempenho dos dispositivos, sempre de forma não destrutiva. === The use of doped fiber amplifiers, especially erbium doped- fiber amplifier (EDFA), has been permitted a great advance in optical communications development, and the use of some tools to characterize these devices has a great importance. The optical frequency domain reflectometry technique (OFDR) is very efficient because it is a non-destructive technique and allows the characterization of the gain through distributed gain measurements. In this work a tunable OFDR system was built permitting to perform measurements in different wavelengths, for characterization in EDFA working in C (1530-1565 nm) and L (1565-1610 nm) bands, as well as Thulium doped fibers operating in S (1450-1530 nm) band. Thanks to these measurements, some different pump schemes studies have been made and also different amplifier topologies to find a best device performance, always in a non-destructive way.