In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction

Diese Arbeit präsentiert eine umfassende in-situ Studie zur thermischen Ausdehnung von β-Ga2O3 im Temperaturbereich von Raumtemperatur (RT) bis 1200 K sowie zum Wachstum dünner Ga2O3 Schichten durch plasmaunterstützte Molekularstrahlepitaxie (MBE). Hierfür kamen synchrotron-basierte hochauflösende R...

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Bibliographic Details
Main Author: Cheng, Zongzhe
Other Authors: Riechert, Henning
Format: Doctoral Thesis
Language:English
Published: Humboldt-Universität zu Berlin 2019
Subjects:
Online Access:http://edoc.hu-berlin.de/18452/21195
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/21195-5
http://dx.doi.org/10.18452/20403
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spelling ndltd-HUMBOLT-oai-edoc.hu-berlin.de-18452-211952019-08-28T03:07:59Z In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction Cheng, Zongzhe Riechert, Henning Scholz, Ferdinand Schmidbauer, Martin Hochauflösende Röntgenbeugung Molekularstrahlepitaxie, Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion thermische Ausdehnung kinematische Näherung transparente halbleitende Oxide high-resolution x-ray diffraction molecular beam epitaxy reflection high-energy electron diffraction thermal expansion kinematic approximation transparent semiconducting oxides 530 Physik ddc:530 Diese Arbeit präsentiert eine umfassende in-situ Studie zur thermischen Ausdehnung von β-Ga2O3 im Temperaturbereich von Raumtemperatur (RT) bis 1200 K sowie zum Wachstum dünner Ga2O3 Schichten durch plasmaunterstützte Molekularstrahlepitaxie (MBE). Hierfür kamen synchrotron-basierte hochauflösende Röntgenbeugung (HRXRD) sowie die Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion (RHEED) zum Einsatz. Die dadurch erhaltenen Resultate gestatten detaillierte quantitative Aussagen zu den Ausdehnungskoeffizienten (CTE) von β-Ga2O3 und ein tieferes Verständnis des Wachstumsprozesses von Ga2O3 sowohl im Rahmen der Homo- als auch der Heteroepitaxie. This thesis presents a comprehensive in-situ study on the thermal expansion of beta-Ga2O3 from room temperature (RT) to 1200 K, and the thin film growth of Ga2O3 as carried out by oxygen plasma assisted molecular beam epitaxy (MBE) using synchrotron-based high-resolution x-ray diffraction (HRXRD) and reflection high-energy electron diffraction (RHEED). The obtained results provide a quantitative analysis on the coefficients of thermal expansion (CTE) of beta-Ga2O3, and a deeper understanding in the growth process of Ga2O3 in both homoepitaxy and heteroepitaxy. 2019-08-26 doctoralThesis doc-type:doctoralThesis http://edoc.hu-berlin.de/18452/21195 urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/21195-5 http://dx.doi.org/10.18452/20403 eng (CC BY-NC-SA 3.0 DE) Namensnennung - Nicht-kommerziell - Weitergabe unter gleichen Bedingungen 3.0 Deutschland http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/de/ application/pdf Humboldt-Universität zu Berlin
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Cheng, Zongzhe
In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction
description Diese Arbeit präsentiert eine umfassende in-situ Studie zur thermischen Ausdehnung von β-Ga2O3 im Temperaturbereich von Raumtemperatur (RT) bis 1200 K sowie zum Wachstum dünner Ga2O3 Schichten durch plasmaunterstützte Molekularstrahlepitaxie (MBE). Hierfür kamen synchrotron-basierte hochauflösende Röntgenbeugung (HRXRD) sowie die Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion (RHEED) zum Einsatz. Die dadurch erhaltenen Resultate gestatten detaillierte quantitative Aussagen zu den Ausdehnungskoeffizienten (CTE) von β-Ga2O3 und ein tieferes Verständnis des Wachstumsprozesses von Ga2O3 sowohl im Rahmen der Homo- als auch der Heteroepitaxie. === This thesis presents a comprehensive in-situ study on the thermal expansion of beta-Ga2O3 from room temperature (RT) to 1200 K, and the thin film growth of Ga2O3 as carried out by oxygen plasma assisted molecular beam epitaxy (MBE) using synchrotron-based high-resolution x-ray diffraction (HRXRD) and reflection high-energy electron diffraction (RHEED). The obtained results provide a quantitative analysis on the coefficients of thermal expansion (CTE) of beta-Ga2O3, and a deeper understanding in the growth process of Ga2O3 in both homoepitaxy and heteroepitaxy.
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