In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction
Diese Arbeit präsentiert eine umfassende in-situ Studie zur thermischen Ausdehnung von β-Ga2O3 im Temperaturbereich von Raumtemperatur (RT) bis 1200 K sowie zum Wachstum dünner Ga2O3 Schichten durch plasmaunterstützte Molekularstrahlepitaxie (MBE). Hierfür kamen synchrotron-basierte hochauflösende R...
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Doctoral Thesis |
Language: | English |
Published: |
Humboldt-Universität zu Berlin
2019
|
Subjects: | |
Online Access: | http://edoc.hu-berlin.de/18452/21195 http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/21195-5 http://dx.doi.org/10.18452/20403 |
id |
ndltd-HUMBOLT-oai-edoc.hu-berlin.de-18452-21195 |
---|---|
record_format |
oai_dc |
spelling |
ndltd-HUMBOLT-oai-edoc.hu-berlin.de-18452-211952019-08-28T03:07:59Z In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction Cheng, Zongzhe Riechert, Henning Scholz, Ferdinand Schmidbauer, Martin Hochauflösende Röntgenbeugung Molekularstrahlepitaxie, Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion thermische Ausdehnung kinematische Näherung transparente halbleitende Oxide high-resolution x-ray diffraction molecular beam epitaxy reflection high-energy electron diffraction thermal expansion kinematic approximation transparent semiconducting oxides 530 Physik ddc:530 Diese Arbeit präsentiert eine umfassende in-situ Studie zur thermischen Ausdehnung von β-Ga2O3 im Temperaturbereich von Raumtemperatur (RT) bis 1200 K sowie zum Wachstum dünner Ga2O3 Schichten durch plasmaunterstützte Molekularstrahlepitaxie (MBE). Hierfür kamen synchrotron-basierte hochauflösende Röntgenbeugung (HRXRD) sowie die Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion (RHEED) zum Einsatz. Die dadurch erhaltenen Resultate gestatten detaillierte quantitative Aussagen zu den Ausdehnungskoeffizienten (CTE) von β-Ga2O3 und ein tieferes Verständnis des Wachstumsprozesses von Ga2O3 sowohl im Rahmen der Homo- als auch der Heteroepitaxie. This thesis presents a comprehensive in-situ study on the thermal expansion of beta-Ga2O3 from room temperature (RT) to 1200 K, and the thin film growth of Ga2O3 as carried out by oxygen plasma assisted molecular beam epitaxy (MBE) using synchrotron-based high-resolution x-ray diffraction (HRXRD) and reflection high-energy electron diffraction (RHEED). The obtained results provide a quantitative analysis on the coefficients of thermal expansion (CTE) of beta-Ga2O3, and a deeper understanding in the growth process of Ga2O3 in both homoepitaxy and heteroepitaxy. 2019-08-26 doctoralThesis doc-type:doctoralThesis http://edoc.hu-berlin.de/18452/21195 urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/21195-5 http://dx.doi.org/10.18452/20403 eng (CC BY-NC-SA 3.0 DE) Namensnennung - Nicht-kommerziell - Weitergabe unter gleichen Bedingungen 3.0 Deutschland http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/de/ application/pdf Humboldt-Universität zu Berlin |
collection |
NDLTD |
language |
English |
format |
Doctoral Thesis |
sources |
NDLTD |
topic |
Hochauflösende Röntgenbeugung Molekularstrahlepitaxie, Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion thermische Ausdehnung kinematische Näherung transparente halbleitende Oxide high-resolution x-ray diffraction molecular beam epitaxy reflection high-energy electron diffraction thermal expansion kinematic approximation transparent semiconducting oxides 530 Physik ddc:530 |
spellingShingle |
Hochauflösende Röntgenbeugung Molekularstrahlepitaxie, Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion thermische Ausdehnung kinematische Näherung transparente halbleitende Oxide high-resolution x-ray diffraction molecular beam epitaxy reflection high-energy electron diffraction thermal expansion kinematic approximation transparent semiconducting oxides 530 Physik ddc:530 Cheng, Zongzhe In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction |
description |
Diese Arbeit präsentiert eine umfassende in-situ Studie zur thermischen Ausdehnung von β-Ga2O3 im Temperaturbereich von Raumtemperatur (RT) bis 1200 K sowie zum Wachstum dünner Ga2O3 Schichten durch plasmaunterstützte Molekularstrahlepitaxie (MBE). Hierfür kamen synchrotron-basierte hochauflösende Röntgenbeugung (HRXRD) sowie die Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion (RHEED) zum Einsatz. Die dadurch erhaltenen Resultate gestatten detaillierte quantitative Aussagen zu den Ausdehnungskoeffizienten (CTE) von β-Ga2O3 und ein tieferes Verständnis des Wachstumsprozesses von Ga2O3 sowohl im Rahmen der Homo- als auch der Heteroepitaxie. === This thesis presents a comprehensive in-situ study on the thermal expansion of beta-Ga2O3 from room temperature (RT) to 1200 K, and the thin film growth of Ga2O3 as carried out by oxygen plasma assisted molecular beam epitaxy (MBE) using synchrotron-based high-resolution x-ray diffraction (HRXRD) and reflection high-energy electron diffraction (RHEED). The obtained results provide a quantitative analysis on the coefficients of thermal expansion (CTE) of beta-Ga2O3, and a deeper understanding in the growth process of Ga2O3 in both homoepitaxy and heteroepitaxy. |
author2 |
Riechert, Henning |
author_facet |
Riechert, Henning Cheng, Zongzhe |
author |
Cheng, Zongzhe |
author_sort |
Cheng, Zongzhe |
title |
In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction |
title_short |
In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction |
title_full |
In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction |
title_fullStr |
In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction |
title_full_unstemmed |
In-situ study of Ga2O3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction |
title_sort |
in-situ study of ga2o3 thermal expansion and epitaxy by synchrotron based x-ray diffraction and reflection high-energy electron diffraction |
publisher |
Humboldt-Universität zu Berlin |
publishDate |
2019 |
url |
http://edoc.hu-berlin.de/18452/21195 http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/21195-5 http://dx.doi.org/10.18452/20403 |
work_keys_str_mv |
AT chengzongzhe insitustudyofga2o3thermalexpansionandepitaxybysynchrotronbasedxraydiffractionandreflectionhighenergyelectrondiffraction |
_version_ |
1719237888916324352 |