Temperatur- und injektionsabhängige Photospannungsmessungen zur Defektcharakterisierung in kristallinem Silizium

Mit wellenlängenabhängigen Messungen der Oberflächenphotospannung (Surface Photovoltage, SPV) lässt sich die Diffusionslänge von Ladungsträgern im Volumen von Siliziumproben messen. Das Ziel der Arbeit war es, mit Hilfe temperatur- und injektionsabhängiger Messungen der Diffusionslänge die Natur rek...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Kaden, Thomas
Other Authors: TU Bergakademie Freiberg, Chemie und Physik
Format: Doctoral Thesis
Language:deu
Published: Technische Universitaet Bergakademie Freiberg Universitaetsbibliothek "Georgius Agricola" 2014
Subjects:
Online Access:http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:105-qucosa-150612
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:105-qucosa-150612
http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/15061/Diss_T_Kaden.pdf