Determinación cualitativa y cuantitativa de fases cristalinas usando métodos analíticos y computacionales

• Main Author: Mendoza Nolorbe, Juan Neil
• Other Authors: Zeballos Velásquez, Elvira Leticia
• Format: Others
• Language: Spanish
• Published: Universidad Nacional Mayor de San Marcos 2017
• Subjects: Materia condensada; Física - Difracción; Rayos X - Difracción; Difractometría de rayos X; Física - Software; Física de la Materia
• Online Access: http://cybertesis.unmsm.edu.pe/handle/cybertesis/6329

Utiliza analíticos y programas de reflectividad y de la estructura cristalina con el propósito de identificar los componentes de muestras multifásicas y determinar sus concentraciones. Este proceso cualitativo y cuantitativo es realizado a partir del análisis y evaluación del registro de la reflectividad obtenido por la técnica de Difracción de Rayos-X usando difractómetro convencional de geometría Bragg-Breatano. Los métodos existentes para analizar mezclas cuantitativamente están basados esencialmente en la comparación de intensidades de picos en los diagramas de difracción, para lo cual se aplican básicamente dos métodos: el método de patrón externo, para el cual se elabora un programa en lenguaje Turbo Pascal que calcula los parámetros que influyen en la intensidad de las reflexiones y se usan para calcular la concentración de las fases; y el método de Rietveld, que es la base de programas de alta eficiencia para identificar fases y determinar concentraciones a partir de un proceso de refinamiento de la estructura cristalina. === Tesis