NOUVELLES METHODES D'IMAGERIE HAUTE RESOLUTION POUR L'ANALYSE DES COMPOSANTS NANOELECTRONIQUES
Ce travail de thèse a contribué au développement de la techniques de test par faisceau laser en mode d'absorption deux photons (TPA). Cette technique a plus spécifiquement été utilisée pour la détection de défauts et l'injection de fautes dans les circuits intégrés.
| Main Author: | |
|---|---|
| Language: | fra |
| Published: |
Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
2012
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997436 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/99/74/36/PDF/ThA_se_Shao_Kai.pdf |