Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels

Cette thèse étudie l'application de le microscopie de champs magnétiques à l'analyse de défaillance des composants électroniques.

Bibliographic Details
Main Author:	Infante, Fulvio
Language:	English
Published:	Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2011
Subjects:	[SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics [SPI:TRON] Sciences de l'ingénieur/Electronique Microscopie magnétique SQUID
Online Access:	http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997421 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/99/74/21/PDF/INFANTE_FULVIO_2011.pdf

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