Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels

Cette thèse étudie l'application de le microscopie de champs magnétiques à l'analyse de défaillance des composants électroniques.

Bibliographic Details
Main Author: Infante, Fulvio
Language:English
Published: Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2011
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997421
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/99/74/21/PDF/INFANTE_FULVIO_2011.pdf