CONTRIBUTION AU DEVELOPPEMENT DE TECHNIQUES DE STIMULATION LASER DYNAMIQUE POUR LA LOCALISATION DE DEFAUTS DANS LES CIRCUITS VLSI

CONTRIBUTION AU DEVELOPPEMENT DE TECHNIQUES DE STIMULATION LASER DYNAMIQUE POUR LA LOCALISATION DE DEFAUTS DANS LES CIRCUITS VLSI

Ce travail contribue au développement de techniques de test dynamiques par stimulation laser pour la détection de défauts dans les composants VLSI.

Bibliographic Details
Main Author:	Amjad, Deyine
Language:	fra
Published:	Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2011
Subjects:	[SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics [SPI:TRON] Sciences de l'ingénieur/Electronique localisation de défauts test laser dynamique
Online Access:	http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997407 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/99/74/07/PDF/Manuscrit_deyine.pdf

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