CONTRIBUTION AU DEVELOPPEMENT DE TECHNIQUES DE STIMULATION LASER DYNAMIQUE POUR LA LOCALISATION DE DEFAUTS DANS LES CIRCUITS VLSI
Ce travail contribue au développement de techniques de test dynamiques par stimulation laser pour la détection de défauts dans les composants VLSI.
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997407 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/99/74/07/PDF/Manuscrit_deyine.pdf |