ANALYSE DE DEFAILLANCE DES CIRCUITS INTEGRES PAR EMISSION DE LUMIERE DYNAMYQUE: DEVELOPPEMENT ET OPTIMISATION D'UN SYSTEME EXPERIMENTAL
L'émission de lumière est une puissante technique de localisation dans le domaine de l'analyse de défaillance des circuits intégrés. Depuis plusieurs années, elle est utilisée comme une technique capable de localiser et d'identifier des défauts émissifs, tels que les courants de fuite...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
2009
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997391 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/99/73/91/PDF/ThA_se_Mustapha_Remmach.pdf |