Modélisation de l'immunité des circuits intègres complexes aux perturbations électromagnétiques
L'objectif de cette thèse est l'étude de l'immunité des circuits intégrés complexes face aux perturbations électromagnétiques. Le début est consacré à la présentation de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés. Une présentation des moyens de maîtrise de la CEM est ens...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
2010
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00991031 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/99/10/31/PDF/GROS_JEAN-BAPTISTE_2010.pdf |